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J-GLOBAL ID：201402226400211035   整理番号：14A1401294

位相回折格子を用いたX線レーザーナノビームの高精度波面計測

著者 (19件)： 西原明彦 (大阪大) ,  松山智至 (大阪大) ,  KIM Jangwoo (大阪大) ,  長平良綾香 (大阪大) ,  湯本博勝 (高輝度光科学研究セ) ,  三村秀和 (東大 大学院工学系研究科) ,  小山貴久 (高輝度光科学研究セ) ,  登野健介 (高輝度光科学研究セ) ,  犬伏雄一 (高輝度光科学研究セ) ,  片山拓也 (高輝度光科学研究セ) ,  富樫格 (高輝度光科学研究セ) ,  矢代航 (東北大 多元物質科研) ,  佐野泰久 (大阪大) ,  大橋治彦 (高輝度光科学研究セ) ,  百生敦 (東北大 多元物質科研) ,  後藤俊治 (高輝度光科学研究セ) ,  矢橋牧名 (理研 播磨研) ,  石川哲也 (理研 播磨研) ,  山内和人 (大阪大)
資料名： 精密工学会大会学術講演会講演論文集  (精密工学会大会シンポジウム資料集)
巻： 2014  号： 秋季(CD-ROM)  ページ： ROMBUNNO.E45  発行年： 2014年09月01日 
JST資料番号： Y0914A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 近年,日本のX線自由電子レーザが発振され様々な実験が行われているが,高密度光子場を生み出すには集光技術が必要不可欠である。我々は,位相回折格子によるTalbot効果を利用したSingle grating interferometerによって集光波面を正確に計測し,集光素子の作製誤差やアライメント誤差を検出することを提案した。この干渉計を用いてXFEL集光ビームの波面計測を行った結果,波長の10分の1以下の精度で波面収差の検出に成功した。(著者抄録)

シソーラス用語： 位相格子 ,  X線レーザ ,  *ビーム ,  精度 ,  波面 ,  *計測 ,  自由電子レーザ ,  集光器 ,  干渉計 ,  誤差 ,  製造 ,  アラインメント ,  *波面収差 ,  放射光施設

分類 (2件)： 放射線計測・計測器一般  (AD08010Y) ,  その他のレーザ  (BD04090H)

タイトルに関連する用語 (5件)： 位相回折格子 ,  X線レーザー ,  ナノビーム ,  波面 ,  計測