特許

J-GLOBAL ID：200903003053935154

分析装置および分析方法

発明者： 安田 賢二
出願人/特許権者： 株式会社日立製作所
代理人 (1件)： 小川 勝男
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-000871
公開番号（公開出願番号）：特開2000-199744
出願日： 1999年01月06日
公開日（公表日）： 2000年07月18日
要約：

【要約】【課題】超音波輻射圧を利用することで、試料を含む領域と含まない領域を作り出し、それぞれの吸光度あるいは蛍光量を測定し、その結果を比較することで吸光分析あるいは蛍光分析する装置を提供すること。【解決手段】容器の対向する側面の一対の超音波発生源から照射される超音波によって試料溶液中の微粒子に作用する力、すなわち、容器中に発生した定在波の節の位置に微粒子を集め、定在波の節の位置と腹の位置それぞれの場所での試料溶液成分の吸光度あるいは蛍光量を測定し、節の位置の値を試料のデータ、腹の位置の値を比較データとして吸光分析あるいは蛍光分析を行う。

請求項（抜粋）：

測定対象の微粒子を含む試料溶液を流す容器と、前記容器に前記微粒子を含む試料溶液を導入する手段と、前記容器に接し流体の流れに直交するように配置され、かつ、互いに向かい合うように配置された一対の超音波発生源と、前記超音波発生源の各々から超音波を発生させることで前記容器内に(2n+1)/2波長の定在波(ただしnは自然数)を発生させる超音波発生制御部と、前記容器に光を照射する手段と、前記定在波の超音波発生源の位置より1/4波長周期で、前記容器中の試料溶液領域各々の吸光度あるいは蛍光量あるいは吸光度と蛍光量を同時にを計測する計測手段と、を有することを特徴とする分析装置。

IPC (6件)：

G01N 21/59 ,  G01N 15/00 ,  G01N 21/64 ,  G01N 33/49 ,  G01N 33/53 ,  G01N 35/08

FI (6件)：

G01N 21/59 Z ,  G01N 15/00 A ,  G01N 21/64 F ,  G01N 33/49 H ,  G01N 33/53 K ,  G01N 35/08 E

Fターム (28件)：

2G043AA01 ,  2G043BA16 ,  2G043CA03 ,  2G043DA09 ,  2G043EA01 ,  2G043EA13 ,  2G043GA01 ,  2G043LA03 ,  2G045AA01 ,  2G045BB24 ,  2G045BB39 ,  2G045CA01 ,  2G045FA13 ,  2G045FA32 ,  2G045FB07 ,  2G045GA03 ,  2G058AA09 ,  2G058BA08 ,  2G058FA07 ,  2G058GA06 ,  2G059AA01 ,  2G059BB06 ,  2G059BB12 ,  2G059CC16 ,  2G059EE01 ,  2G059EE07 ,  2G059KK04 ,  2G059MM05