特許
J-GLOBAL ID：200903016778708107
微粒子形状測定装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
小川 勝男
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-162306
公開番号（公開出願番号）：特開平11-014533
出願日： 1997年06月19日
公開日（公表日）： 1999年01月22日
要約：
【要約】【課題】 微粒子の向きを連続的に変化させながら、微粒子の2次元断面像を連続的に取得し、微粒子の異なる角度からの2次元断面像を取得する装置を提供すること。【解決手段】 微粒子は、観察窓20を持つ管10中を流れる。管10の中の微粒子は光源80によって照明され、テレビカメラ60によって、微粒子の像が撮影され、制御解析装置部70に画像データが記録される。微粒子の配向する向きを制御するために、管10の隣り合った2つの壁面に、超音波振動子30と31が配置され、制御解析装置部70からの指令に応じて、波形合成器40で作られた電圧振幅の波形が各々増幅器50、51で増幅された後、超音波振動子30、31に導入される。超音波振動子30、31は各々管中に互いに直交した平面定在波を発生させ、各平面定在波はその波面で作られる定在波の位置ポテンシャルの極小面上に微粒子を配向させる。
請求項（抜粋）：
微粒子を含む流体が流れる管と、管中の流体の流れに垂直な方向に超音波の定在波を導入する手段と、超音波によって作り出される位置ポテンシャル分布の形状を時間的に連続的に変化させる手段と、前記位置ポテンシャル分布の変化に応じて連続的に管中の微粒子の2次元断面像を取得する手段とを有することを特徴とする微粒子形状測定装置。
IPC (4件)：
G01N 15/10
, G01B 17/00
, G01N 15/02
, G01S 15/89
G01N 15/10 A
, G01B 17/00 Z
, G01N 15/02 B
, G01S 15/89 B
