特許
J-GLOBAL ID：200903098805461549

低被爆X線検査方法及び装置

発明者：
青木 徹

青木 徹 について

, 
畑中 義式

畑中 義式 について


出願人/特許権者：
国立大学法人静岡大学

国立大学法人静岡大学 について


代理人 (4件)： 長谷川 芳樹 ,  寺崎 史朗 ,  近藤 伊知良 ,  諏澤 勇司
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-097726
公開番号（公開出願番号）：特開2007-271468
出願日： 2006年03月31日
公開日（公表日）： 2007年10月18日
要約：
【課題】フォトンカウンティング動作による超高感度半導体放射線イメージャーと低出力高エネルギーX線源を用いた低被爆のX線検査装置を提供する。【解決手段】CdTeを用いる超高感度の半導体放射線検出器を面状に配置し、2次元画像を得るように構成する。各半導体放射線検出器からのX線検出信号は信号処理回路で処理されるが、この際、信号強度により弁別動作を行う回路を設ける。さらには、この弁別動作はフォトン1個が入射する時間内に終了するように高速で処理される。これにより入射したX線のエネルギーレベルが判明し、エネルギーレベルごとの入射量が計数可能となる。それぞれのエネルギー帯で求められた強度画像信号からRGB画像信号を作成し、表示する。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
低出力高エネルギーX線源と複数のX線検出器との間に検査対象物を間挿し、X線検出器から前記検査対象物のX線画像情報を取得し、取得した画像情報をX線エネルギー帯別に弁別し、弁別したX線エネルギー帯毎に強度を求め、求められた強度画像信号を表示器に表示してなる低被爆X線検査方法。
IPC (1件)：
G01N 23/04
FI (1件)：
G01N23/04
Fターム (16件)：
2G001AA01 ,  2G001BA11 ,  2G001CA01 ,  2G001DA01 ,  2G001DA09 ,  2G001DA10 ,  2G001EA03 ,  2G001FA01 ,  2G001FA08 ,  2G001HA07 ,  2G001HA13 ,  2G001JA13 ,  2G001KA06 ,  2G001LA02 ,  2G001LA10 ,  2G001SA02
引用特許：
出願人引用 (2件)
  • 放射線画像生成装置
    公報種別：公開公報   出願番号：特願平9-071820   出願人：富士写真フイルム株式会社
  • X線検査装置
    公報種別：公開公報   出願番号：特願2002-081815   出願人：株式会社島津製作所
審査官引用 (13件)
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引用文献：
審査官引用 (1件)

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