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J-GLOBAL ID：201202289355502780   整理番号：12A0569038

多波光応用技術 光周波数コムの発生と干渉計測への応用

著者 (3件)： 崔森悦 (新潟大) ,  柏木謙 (東京農工大) ,  黒川隆志 (東京農工大)
資料名： O plus E  (O plus E)
号： 389  ページ： 314-319  発行年： 2012年03月25日 
JST資料番号： Z0994A  ISSN： 0911-5943  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 光周波数コム光源を概説した。その技術には光変調素子のカスケード接続,共振器型光コム発生器,コヒーレンス関数合成法,フェムト秒レーザと非線形ファイバによるスーパーコンティニュアム(SC)発生,光パルスシンセサイザと非線形ファイバによるSC発生などが含まれる。次に,光周波数コムを光源に用いる干渉計測法として,コム間ビート信号による距離計測,光パルス間干渉を用いる形状計測,SCを光源に用いた白色干渉法などを説明した。最後に,著者らが開発した「コム間隔掃引干渉法」による形状計測とその応用例を述べた。

シソーラス用語： *周波数 ,  *光源 ,  *干渉測定 ,  光変調素子 ,  光共振器 ,  パルスレーザ ,  フェムト秒 ,  光ファイバ ,  連続スペクトル ,  *形状測定 ,  白色光 ,  光干渉法 ,  三次元測定
準シソーラス用語： スーパーコンティニュアム ,  *光周波数コム

分類 (2件)： 光源  (BD07020D) ,  干渉測定と干渉計  (BD07070G)

引用文献 (20件)：

• 1) M. Takeda, H. Ina, and S. Kobayashi: "Fourier-transform method of fringe-pattern analysis for computer-based topography and interferometry," J. Opt. Soc. Am., Vol.72, No.1, pp.156-159 (1982)
• 2) Y. Ishii, J. Chen, and K. Murata: "Digital phase measuring interferometry with a tunable laser diode," Opt. Lett., Vol.12, No.4, pp.233-235 (1987)
• 3) 0. Sasaki, and H. Okazaki: "Sinusoidal phase modulating interferometry for surface profile measurement," Appl. Opt. Vol.25, No.18, pp.3137-3140 (1986)
• 4) K. Tatsuno and Y. Tsunoda: "Diode laser direct modulation heterodyne interferometer," Appl. Opt., Vol.26, No.1, pp.37-40 (1987)
• 5) B. S. Lee and T. C. Strand: "Profilometry with a coherence scanning microscope," Appl. Opt., Vol. 29, No.26, pp.3784-3788 (1990)

タイトルに関連する用語 (4件)： 波 ,  応用 ,  光周波数コム ,  干渉計測