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J-GLOBAL ID：201602244056061329   整理番号：16A0769981

プロセッサスケールNBTI劣化の作業負荷を意識した最悪のパス解析【Powered by NICT】

Workload-aware worst path analysis of processor-scale NBTI degradation

著者 (6件)： Bian Song (Department of Communications and Computer Engineering, Kyoto University, Yoshida-hon-machi, Sakyo, Kyoto 606-8501, Japan) ,  Shintani Michihiro (Department of Communications and Computer Engineering, Kyoto University, Yoshida-hon-machi, Sakyo, Kyoto 606-8501, Japan) ,  Morita Shumpei (Department of Communications and Computer Engineering, Kyoto University, Yoshida-hon-machi, Sakyo, Kyoto 606-8501, Japan) ,  Awano Hiromitsu (Department of Communications and Computer Engineering, Kyoto University, Yoshida-hon-machi, Sakyo, Kyoto 606-8501, Japan) ,  Hiromoto Masayuki (Department of Communications and Computer Engineering, Kyoto University, Yoshida-hon-machi, Sakyo, Kyoto 606-8501, Japan) ,  Sato Takashi (Department of Communications and Computer Engineering, Kyoto University, Yoshida-hon-machi, Sakyo, Kyoto 606-8501, Japan)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2016  号： GLSVLSI  ページ： 203-208  発行年： 2016年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 技術は,半導体デバイスをスケーリングするとして,加齢デバイス劣化は,デバイス信頼性に対する主要な脅威の一つとなっている。添加では,負バイアス温度不安定性(NBTI)のような老化機構は設計段階で仮定することが難しい作業負荷(すなわち,信号確率)に敏感であることが知られている。本研究では,プロセッサを用いたNBTI劣化の負荷依存性を解析し,最悪の場合の経路を推定するための新しい手法を提案する。この手法では,慎重な検査により,回路構成の決定論的性質は異なる経路に及ぼすNBTI劣化の量を制限すると,プロセッサにおける不変クリティカルパスを同定するための二段階経路抽出アルゴリズムを提案したという事実を利用した。MIPS32プロセッサ上での数値実験により,詳細な信号確率分析を行い,24,978経路候補のうち85不変クリティカルパスを抽出し,パスの数のほぼ300倍減少を達成した。Copyright 2016 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： *演算プロセッサ ,  不変性 ,  クリニカルパス ,  半導体素子 ,  アルゴリズム ,  信頼性
準シソーラス用語： 数値実験 ,  決定論 ,  回路構成 ,  負荷依存性 ,  *パス解析 ,  *NBTI , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (2件)： パターン認識  (JE07000S) ,  信号理論  (ND02020G)

タイトルに関連する用語 (6件)： プロセッサ ,  スケール ,  NBTI ,  作業負荷 ,  意識 ,  パス解析