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J-GLOBAL ID:201702244237701435   整理番号:17A0830905

プラズモニクスへの応用のための非常に薄い銀膜の光学的性質の微細構造と偏光解析法によるモデル化【Powered by NICT】

Microstructure and ellipsometric modelling of the optical properties of very thin silver films for application in plasmonics
著者 (6件):
資料名:
巻: 628  ページ: 22-30  発行年: 2017年 
JST資料番号: B0899A  ISSN: 0040-6090  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: オランダ (NLD)  言語: 英語 (EN)
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銀ナノ粒子における表面プラズモンの励起は,光トラッピングを強化するための有望な方法である。粒径の影響を理解するために本論文では,ナノ結晶銀薄膜の光学的性質の結果を報告した。膜の微細構造を走査型電子顕微鏡,原子間力顕微鏡(A FM)とX線回折(XRD)により調べた。Debye-Scherrer式によりXRD測定から計算した微結晶/粒子の大きさは,A FMの結果と良く一致した。光学的性質を分光偏光解析測定から決定した。Drude-Lorentzモデルは多孔質膜の特性化に適していることを示したが,島状構造は,周波数依存減衰パラメータΓを持つ拡張Drudeモデルを必要とした。複素誘電率,ε^ω=ε′ω+iε′′ωの虚数部の最大,銀粒子の偏光の横方向振動に起因することを,は堆積速度に依存して1.5 2~0.8eVのエネルギー範囲に配置できることを実証した粒径を減らした場合より高いエネルギーにシフトした。現代,表面/体積比の変化は損失関数Im 1--ε^ωの最大をシフトから3.8~3.5eVを導いた。Copyright 2017 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】
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分類 (2件):
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半導体薄膜  ,  光物性一般 

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