抄録/ポイント:
抄録/ポイント
文献の概要を数百字程度の日本語でまとめたものです。
部分表示の続きは、JDreamⅢ(有料)でご覧頂けます。
J-GLOBALでは書誌(タイトル、著者名等)登載から半年以上経過後に表示されますが、医療系文献の場合はMyJ-GLOBALでのログインが必要です。
サポートベクトルマシン(SVM)はパターン認識,分類と回帰分析に使用した。しかし,SVMは傾斜データセット,分類決定表面のオフセットにつながるにより容易に影響され,最適超平面は小サンプルサイズクラスに傾斜することができた。,これは確かに分類誤差を増加させるであろう。問題を解決するために,本論文では,区分しきい値サポートベクトルマシン(DT SVM)を提案した。DT SVMは主要な三成分,最近傍,分散及び制限しきい値で構成されている。最初の予備傾斜データセットにおけるデータ,エイリアシングデータであるかどうか判断を処理し,最終的にそれらに対応する操作を,エイリアシングデータと制限しきい値のk最近傍のクラス別に属するどのクラス判定した。実験結果は,分類精度と上記モデルの小サンプルサイズクラスの分類精度はある程度改善されることを示した。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】