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J-GLOBAL ID:201702264557313362   整理番号:17A0403398

合成,構造,X線光電子分光法(XPS)による研究とTl_4HgI_6単結晶のIR誘起異方性【Powered by NICT】

Synthesis, structural, X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) studies and IR induced anisotropy of Tl4HgI6 single crystals
著者 (11件):
資料名:
巻: 187  ページ: 156-163  発行年: 2017年 
JST資料番号: E0934A  ISSN: 0254-0584  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: オランダ (NLD)  言語: 英語 (EN)
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本研究では,合成,長さが80mmまでのBridgman-Stockbarger法により成長させたTl_4HgI_6結晶のX線protoelectron分光法(XPS)分析と直径18mmを含む構造特性について報告する。641Kで不調和に融解することを三元化合物Tl_4HgI_6の存在を確認した。TlI HgI_2系の相平衡と構造的性質を示差熱分析(DTA)とX線回折(XRD)法により調べた。X線光電子スペクトルは,元のおよびAr~+イオン照射した両Tl_4HgI_6単結晶表面を測定した。データはイオン電流密度14μA/cm~2で5分で3.0keVのAr~+照射はTl_4HgI_6表面の元素化学量論に変化を誘発し,最上表面層中の水銀含有量の減少に繋がるので,Tl_4HgI_6単結晶であるAr~+イオン衝撃に対して敏感であることを明らかにした。X線光電子分光法(XPS)測定は,Tl_4HgI_6単結晶表面の非常に低い吸湿性を示した。波長10.6/5.3μmでのIRの可干渉性の二色レーザ処理はErの波長1540nmにおける異方性の発生を示した:ガラスレーザ。これはIRレーザトリガのための材料としてTl_4HgI_6の応用を開く可能性がある。Copyright 2017 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】
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分類 (3件):
分類
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非線形光学  ,  アミノ酸  ,  塩 

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