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J-GLOBAL ID：201102249170533982   整理番号：11A1445848

テラヘルツ帯・薄膜マッチング型超伝導検出器の性能評価

著者 (6件)： 有吉誠一郎 (理研) ,  高橋研太 (理研) ,  高橋研太 (東北大 大学院理学研究科) ,  田井野徹 (埼玉大 大学院理工学研究科) ,  大谷知行 (理研) ,  大谷知行 (東北大 大学院理学研究科)
資料名： エクストリームフォトニクス研究 第11回 理研・分子研合同シンポジウム 平成22年
ページ： 151-152  発行年： 2010年 
JST資料番号： N20111437  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *検出器 ,  *電磁波 ,  超伝導薄膜 ,  *超伝導素子 ,  単結晶 ,  ニオブ ,  タンタル ,  電流電圧特性 ,  性能評価 ,  テラヘルツ波
準シソーラス用語： サブミリ波検出器 ,  *テラヘルツ波検出器 ,  *超伝導トンネル接合素子

分類 (2件)： 赤外・遠赤外領域の測光と光検出器  (BD07032W) ,  Josephson接合・素子  (BM04043E)

タイトルに関連する用語 (6件)： テラヘルツ ,  薄膜 ,  マッチング ,  超伝導 ,  検出器 ,  性能評価