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J-GLOBAL ID：201202271930100952   整理番号：12A0609141

ボルタンメトリ法水質分析における測定誤差の要因解明-作用電極表面状態および電流サンプリングの影響

著者 (8件)： 藤川陽子 (京大) ,  坂山弘樹 (大阪産業大) ,  米田大輔 (大阪産業大) ,  WEI Minglin (京大) ,  橋口亜由未 (大阪産業大) ,  菅原正孝 (大阪産業大) ,  LEWTAS Paul (Cogent Environmental) ,  本間徹生 (高輝度光科学研究セ)
資料名： 日本水環境学会年会講演集  (日本水環境学会年会講演要旨集)
巻： 46th  ページ： 512  発行年： 2012年03月14日 
JST資料番号： S0264B  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： 水質試験 ,  微量分析 ,  *ボルタンメトリー ,  測定誤差 ,  表面準位
準シソーラス用語： 表面状態

分類 (1件)： 電極過程  (CB07040U)

タイトルに関連する用語 (6件)： ボルタンメトリ法 ,  水質分析 ,  測定誤差 ,  要因 ,  作用電極 ,  サンプリング