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J-GLOBAL ID：201602266748123009   整理番号：16A1275277

サニャック干渉型光ファイバセンサのAE計測への適用

著者 (4件)： 鳥越裕斗 (青山学院大 大学院理工学研究科) ,  長秀雄 (青山学院大) ,  伊藤寛明 (青山学院大) ,  伊藤寛明 (近畿大)
資料名： 日本機械学会年次大会講演論文集(CD-ROM)  (日本機械学会年次大会(CD-ROM))
巻： 2016  ページ： ROMBUNNO.J0420403  発行年： 2016年09月10日 
JST資料番号： X0587C  ISSN： 2424-2667  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： サニャック干渉型光ファイバセンサのAE計測への適用性を検討するため周波数特性及び温度に対するロバスト性を評価した。センサの周波数特性は振動計測位置によって異なり,その特性は解析解と一致した。CFRPの破壊に伴うAEを検出したところ圧電型のAEセンサでの検出数の85%程度であり,AEセンサに使用できる可能性があることが確認できた。また,温度変化に対に対するロバスト性を検討したところ光ファイバの変形を拘束した部位が加熱されると熱応力に伴う複屈折現象によって干渉感度が変化することわかった。(著者抄録)

シソーラス用語： *計測 ,  *アコースティックエミッション ,  *光ファイバセンサ ,  *干渉計 ,  適応性 ,  解析 ,  ロバスト性 ,  温度変動 ,  Sagnac干渉計 ,  ロバスト性解析
準シソーラス用語： AE計測

分類 (2件)： 非破壊試験  (HB02030F) ,  光導波路,光ファイバ,繊維光学  (BD06030H)

タイトルに関連する用語 (3件)： 干渉型光 ,  ファイバセンサ ,  AE計測