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J-GLOBAL ID：201702212697798390   整理番号：17A0245093

フッ素化有機半導体におけるF 1s NEXAFS二色性を理解する

Understanding the F 1s NEXAFS Dichroism in Fluorinated Organic Semiconductors

著者 (7件)： KLUES M. (Philipps-Univ. Marburg, Marburg, DEU) ,  JERABEK P. (Philipps-Univ. Marburg, Marburg, DEU) ,  BREUER T. (Philipps-Univ. Marburg, Marburg, DEU) ,  OEHZELT M. (Helmholtz Zentrum fuer Materialien und Energie GmbH, Berlin, DEU) ,  HERMANN K. (Fritz-Haber-Inst. der Max-Planck-Gesellschaft, Berlin, DEU) ,  BERGER R. (Philipps-Univ. Marburg, Marburg, DEU) ,  WITTE G. (Philipps-Univ. Marburg, Marburg, DEU)
資料名： Journal of Physical Chemistry C  (Journal of Physical Chemistry C)
巻： 120  号： 23  ページ： 12693-12705  発行年： 2016年06月16日 
JST資料番号： W1877A  ISSN： 1932-7447  CODEN： JPCCCK  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： F 1s NEXAFS共鳴とそれらの二色性特性を一層詳細に解明することを試みた。制御された分子配向を有するN型フッ素化有機半導体ペルフルオロペンタセン(PFP)の明確な多層膜についてNEXAFS測定を行った。SiO₂とHOPG上のPFP多層膜を解析することによって電子的基板相互作用を排除し,両基板上で明確な多様性分子配向,SiO₂上の垂直立位分子とHOPG上の平坦横臥配列を得た。これによって種々の分子配置について二色性を詳細に解析できた。精密密度汎関数解析は緩和効果を適切に考慮することによってNEXAFSスペクトルに寄与する個別共鳴を同定することができた。励起エネルギーだけでなく,自己無撞着場アプローチで最終緩和状態に対する遷移双極子モーメントを決定した。この解析をペルフルオロナフタレンにも適用した。

シソーラス用語： N型半導体 ,  *有機半導体 ,  有機フッ素化合物 ,  半導体薄膜 ,  *結晶方位 ,  緩和現象 ,  振動子強度 ,  共役 ,  物理的性質 ,  構造解析 ,  二色性 ,  XANES ,  酸化ケイ素 ,  高配向性熱分解グラファイト ,  多層膜 ,  X線回折 ,  *分子配向 ,  励起エネルギー ,  双極子モーメント ,  密度汎関数法 ,  SCF法 ,  LUMO ,  入射角 ,  NEXAFS ,  π共役 ,  電子-固体相互作用 ,  電子緩和 ,  電子物性
準シソーラス用語： HOPG ,  緩和効果 ,  *結晶配向 ,  自己無撞着場法

分類 (2件)： 有機化合物の薄膜  (BK14070L) ,  有機化合物・錯体のX線スペクトル  (BM08102G)

物質索引 (2件)： ペルフルオロナフタレン ,  ペルフルオロペンタセン

タイトルに関連する用語 (5件)： フッ素化 ,  有機半導体 ,  NEXAFS ,  二色性 ,  理解