文献
J-GLOBAL ID:201702234750712481   整理番号:17A0755713

力学インダクタンス検出器のベクトルビームパターン測定の概念実証【Powered by NICT】

Proof-of-Concept Demonstration of Vector Beam Pattern Measurements of Kinetic Inductance Detectors
著者 (9件):
資料名:
巻:号:ページ: 98-106  発行年: 2017年 
JST資料番号: W2304A  ISSN: 2156-342X  CODEN: ITTSBX  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
抄録/ポイント:
抄録/ポイント
文献の概要を数百字程度の日本語でまとめたものです。
部分表示の続きは、JDreamⅢ(有料)でご覧頂けます。
J-GLOBALでは書誌(タイトル、著者名等)登載から半年以上経過後に表示されますが、医療系文献の場合はMyJ-GLOBALでのログインが必要です。
マイクロ波運動インダクタンス検出器(MKIDs)の最初のベクトルビームパターン測定の結果を提示した。ベクトルビームパターンは振幅と位相の両方における受信機のE場のサンプリングを必要とする。MKIDsは本質的に直接検出器は,入射照射に応答相を持っていない。二ソースヘテロダイン技術を採用することによって検出器ビームプロファイルの振幅と位相パターンを地図化した。試験戦略は,データ取得を誘発するために参照信号を生成することにより位相情報を回復する。参照は,サブミリ波源を駆動するために使用される二種類のシンセサイザの出力からわずかに相殺低周波信号を混合することにより生成した。重要な要件は,時系列記録は,常に参照信号の同じセット相で開始することをである。源プローブは受信機ビーム内で走査されるので,受信機の波面伝搬位相検出器出力と参照信号の間の位相オフセットを変化させ,原因となる。350GHzで動作する試験アレイの中心画素に本技術を実証した。この方法は直接検出器,誤差の系統的源を低減し,ビーム伝搬を可能にし,複雑な光学系は容易にアクセス可能な点で測定できる遠方場測定要求,近接場を含む除去の明確な利点を持つで実行するベクトルビームパターン測定可能にするであろう。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】
シソーラス用語:
シソーラス用語/準シソーラス用語
文献のテーマを表すキーワードです。
部分表示の続きはJDreamⅢ(有料)でご覧いただけます。
J-GLOBALでは書誌(タイトル、著者名等)登載から半年以上経過後に表示されますが、医療系文献の場合はMyJ-GLOBALでのログインが必要です。

分類 (4件):
分類
JSTが定めた文献の分類名称とコードです
天文学・天体物理学一般  ,  赤外・遠赤外領域の測光と光検出器  ,  アンテナ  ,  分光法と分光計一般 

前のページに戻る