文献

J-GLOBAL ID：201702255028699618   整理番号：17A0298672

EASTの電子サイクロトロン放射測定のためのMichelson干渉計【Powered by NICT】

A Michelson Interferometer for Electron Cyclotron Emission Measurements on EAST

著者 (9件)： Liu Yong (Institute of Plasma Physics, Chinese Academy of Sciences) ,  Schmuck Stefan (CCFE, Culham Science Centre) ,  Zhao Hailin (Institute of Plasma Physics, Chinese Academy of Sciences) ,  Fessey John (CCFE, Culham Science Centre) ,  Trimble Paul (CCFE, Culham Science Centre) ,  Liu Xiang (Institute of Plasma Physics, Chinese Academy of Sciences) ,  Zhu Zeying (Institute of Plasma Physics, Chinese Academy of Sciences) ,  Zang Qing (Institute of Plasma Physics, Chinese Academy of Sciences) ,  Hu Liqun (Institute of Plasma Physics, Chinese Academy of Sciences)
資料名： Dengliziti Kexue he Jishu(Yingwenban)  (Dengliziti Kexue he Jishu(Yingwenban))
巻： 18  号： 12  ページ： 1148-1154  発行年： 2016年 
JST資料番号： C2608A  ISSN： 1009-0630  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 中国 (CHN)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： Michelson干渉計,EFDA JET(Culham,英国)から融資について最近実験的先進超伝導トカマク(EAST,ASIPP,Hefei,中国)に装備されている。成功したその場絶対較正後装置である,異常モード(Xモード)偏光の80GHzから350GHzまでの,電子サイクロトロン放射(ECE)スペクトルを高精度で測定することができた。は数値シミュレーションと高調波発光を比較することにより第二高調波ECEの観察と非Maxwell型特徴の可能な同定からの電子温度プロファイルの独立な決定を可能にした。その場較正結果は初めに測定した温度プロファイルと共に提示した。これらの測定を議論し,比較した他の独立した温度プロファイル測定を行った。診断と関連する試運転試験結果の主なハードウェア特徴を述べた。Data from the ScienceChina, LCAS. Translated by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： 発光 ,  *干渉計 ,  中華人民共和国 ,  電子温度 ,  *Michelson干渉計 ,  温度分布 ,  偏光 ,  高調波 ,  英国 ,  ハードウェア ,  第二高調波 ,  数値シミュレーション ,  高精度 ,  超伝導トカマク ,  *電子サイクロトロン放射

著者キーワード (5件)： EAST ,  ECE ,  干渉計 ,  キャリブレーション ,  電子温度

分類 (1件)： 干渉測定と干渉計  (BD07070G)

タイトルに関連する用語 (2件)： 電子サイクロトロン放射 ,  Michelson干渉計