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J-GLOBAL ID：201702262912707828   整理番号：17A0704864

H型センサによる個々の単結晶CdSナノワイヤの熱電特性のベンチマーク評価【Powered by NICT】

Benchmark characterization of the thermoelectric properties of individual single-crystalline CdS nanowires by a H-type sensor

著者 (5件)： Wang Haidong (Department of Mechanical Engineering, Kyushu University, Fukuoka 819-0395, Japan. [e-mail]) ,  Zheng Dingshan ,  Zhang Xing ,  Takamatsu Hiroshi ,  Hu Weida
資料名： RSC Advances (Web)  (RSC Advances (Web))
巻： 7  号： 41  ページ： 25298-25304  発行年： 2017年 
JST資料番号： U7055A  ISSN： 2046-2069  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 個々の単結晶CdSナノワイヤの熱電性能を測定はじめて開発した精度H型センサ法。ナノ操作プローブを用いて,直接アレイからの個々のナノワイヤを,センサ上に配置することであった。著者らの方法は,一般的にどちらかアレイあるいは粉末の形で合成し,ナノワイヤに適用可能である。単純外部電気回路を変化させることにより,Seebeck係数,熱伝導率および電気伝導率は,高い精度と信頼性を保証するために同じナノワイヤ試料を測定した。CdSナノワイヤは,その広いバンドギャップに起因する300μV K~ 1以上の大きなSeebeck係数を有していたが,それらの熱伝導率は顕著なフォノン表面散乱のためにバルク材料のそれの十分の1であった。CdSナノワイヤの性能指数ZT,指数は,Bi_2S_3ナノワイヤの値よりも二桁の大きさで大きく,0.01~320Kで300K以上の急速な増加の傾向を示した。Copyright 2017 Royal Society of Chemistry All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： 電気回路 ,  *ナノワイヤ ,  信頼性 ,  プローブ ,  *センサ ,  性能指数 ,  バンドギャップ ,  *単結晶 ,  熱伝導率 ,  フォノン ,  *硫化カドミウム ,  電気伝導率 ,  検出法 ,  表面散乱 ,  Seebeck係数

分類 (4件)： 半導体薄膜  (BK14040E) ,  熱電デバイス  (NC03090J) ,  原子・分子のクラスタ  (BH09030O) ,  塩  (CD01050V)

タイトルに関連する用語 (7件)： H型 ,  単結晶 ,  CdS ,  ナノワイヤ ,  熱電特性 ,  ベンチマーク ,  評価