Univ Lyon, UJM-Saint-Etienne, CNRS, Institut d’Optique Graduate School, Laboratoire Hubert Curien UMR 5516, F-42023, Saint-Etienne, France について
EPICIER T. について
MATEIS, UMR 5510 CNRS, Universite de Lyon, INSA-Lyon, Villeurbanne, France について
LEFKIR Y. について
Univ Lyon, UJM-Saint-Etienne, CNRS, Institut d’Optique Graduate School, Laboratoire Hubert Curien UMR 5516, F-42023, Saint-Etienne, France について
VITRANT G. について
IMEP-LAHC, Minatec, Grenoble-INP, CNRS-UMR 5130, Grenoble, France について
DESTOUCHES N. について
Univ Lyon, UJM-Saint-Etienne, CNRS, Institut d’Optique Graduate School, Laboratoire Hubert Curien UMR 5516, F-42023, Saint-Etienne, France について
Journal of Microscopy について
ナノ粒子 について
精度 について
モルフォロジー について
電子顕微鏡観察 について
キャラクタリゼーション について
定量分析 について
コントラスト について
細孔 について
定量的分析 について
透過型電子顕微鏡 について
ヒストグラム について
信頼性 について
銀 について
二酸化チタン について
金属ナノ粒子 について
HAADF-STEM について
Ag TiO2複合膜 について
HAADF-STEM について
画像セグメンテーション について
画像合成 について
ナノ粒子 について
サイズヒストグラム について
統計解析 について
顕微鏡法 について
医用画像処理 について
不均一 について
マトリックス について
粒子分布 について
HAADF-STEM について
特性評価 について
シミュレーション について