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J-GLOBAL ID：201702270598850322   整理番号：17A0443400

高検出分解能と広い測定範囲を持つ超小角自己混合センサシステム【Powered by NICT】

A ultra-small-angle self-mixing sensor system with high detection resolution and wide measurement range

著者 (11件)： Yang Bo (Key Laboratory of Opto-Electronic Information Acquisition and Manipulation of Ministry of Education, Anhui University, Jiulong Road 111#, Hefei 230601, China) ,  Wang Dehui (Key Laboratory of Opto-Electronic Information Acquisition and Manipulation of Ministry of Education, Anhui University, Jiulong Road 111#, Hefei 230601, China) ,  Zhou Lin (Key Laboratory of Opto-Electronic Information Acquisition and Manipulation of Ministry of Education, Anhui University, Jiulong Road 111#, Hefei 230601, China) ,  Wu Shuang (Key Laboratory of Opto-Electronic Information Acquisition and Manipulation of Ministry of Education, Anhui University, Jiulong Road 111#, Hefei 230601, China) ,  Xiang Rong (Key Laboratory of Opto-Electronic Information Acquisition and Manipulation of Ministry of Education, Anhui University, Jiulong Road 111#, Hefei 230601, China) ,  Zhang Wenhua (Key Laboratory of Opto-Electronic Information Acquisition and Manipulation of Ministry of Education, Anhui University, Jiulong Road 111#, Hefei 230601, China) ,  Gui Huaqiao (Key Laboratory of Environmental Optics and Technology, Anhui Institute of Optics and Fine Mechanics, Chinese Academy of Sciences, Hefei 230031, China) ,  Liu Jianguo (Key Laboratory of Environmental Optics and Technology, Anhui Institute of Optics and Fine Mechanics, Chinese Academy of Sciences, Hefei 230031, China) ,  Wang Huanqing (State Key Laboratory of Transducer Technology, Institute of Intelligent Machines, Chinese Academy of Sciences, 350 Shu Shang Hu Road, Hefei, 230031, China) ,  Lu Liang (Key Laboratory of Opto-Electronic Information Acquisition and Manipulation of Ministry of Education, Anhui University, Jiulong Road 111#, Hefei 230601, China) ,  Yu Benli (Key Laboratory of Opto-Electronic Information Acquisition and Manipulation of Ministry of Education, Anhui University, Jiulong Road 111#, Hefei 230601, China)
資料名： Optics & Laser Technology  (Optics & Laser Technology)
巻： 91  ページ： 92-97  発行年： 2017年 
JST資料番号： D0245B  ISSN： 0030-3992  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 従来の反射鏡に基づく自己混合技術は角度センシング応用のための大きな利点を実証した。直角プリズムを結合自己混合角測定にによって修飾された自己反射混合角測定システムを実証した。本システムでは,波長が角測定分解能に重要である。マイクロチップ固体レーザでは,測定分解能は0.49mradに達することができるが,He-Neレーザの分解能は0.53mradであった。添加では,マイクロチップ固体レーザとHe-Neレーザを用いたシステムの範囲は,それぞれ22mradと24.9mradまでである。この修飾角測定システムは効果的に自己混合測定システムの利点を組み合わせたコンパクトな構造を,分解能と精度の高い要求のような興味ある特徴を提供した。Copyright 2017 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】

シソーラス用語： 計測システム ,  He-Neレーザ ,  反射鏡 ,  波長 ,  プリズム ,  固体レーザ ,  *分解能 ,  マイクロチップ ,  *センサシステム

著者キーワード (4件)： 自己混合効果 ,  干渉測定 ,  光学的測定 ,  レーザセンサ

分類 (2件)： 固体レーザ  (BD04080W) ,  光学的測定とその装置一般  (BD07010S)

タイトルに関連する用語 (4件)： 分解能 ,  測定範囲 ,  自己 ,  センサシステム