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J-GLOBAL ID：201702277444760258   整理番号：17A0451619

走査型Kelvinプローブ力顕微鏡によるオーステナイト系ステンレス鋼中の水素拡散の結晶学的方位依存性の発見【Powered by NICT】

The finding of crystallographic orientation dependence of hydrogen diffusion in austenitic stainless steel by scanning Kelvin probe force microscopy

著者 (6件)： Hua Zhengli (Institute of Process Equipment, Zhejiang University, Hangzhou, Zhejiang 310027, PR China) ,  Hua Zhengli (National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (AIST), Tsukuba, Ibaraki 305-8569, Japan) ,  An Bai (National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (AIST), Tsukuba, Ibaraki 305-8569, Japan) ,  Iijima Takashi (National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (AIST), Tsukuba, Ibaraki 305-8569, Japan) ,  Gu Chaohua (Institute of Process Equipment, Zhejiang University, Hangzhou, Zhejiang 310027, PR China) ,  Zheng Jinyang (Institute of Process Equipment, Zhejiang University, Hangzhou, Zhejiang 310027, PR China)
資料名： Scripta Materialia  (Scripta Materialia)
巻： 131  ページ： 47-50  発行年： 2017年 
JST資料番号： B0915A  ISSN： 1359-6462  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 走査Kelvinプローブ力顕微鏡(SKPFM)と電子後方散乱回折(EBSD)の組み合わせは,熱的に水素をプリチャージした304型オーステナイト系ステンレス鋼(γ SS)からの水素放出を調べるために適用した。接触電位差(CPD)の変化は,表面近傍領域における水素濃度の変化を示した。γSS中の水素拡散係数は結晶学的方位に依存することが初めて分かった。(001)と(101)結晶粒からの水素拡散した(111)穀粒からより速く(001)および(101)結晶粒間の見られない明らかな差があった。Copyright 2017 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】

シソーラス用語： 接触電位差 ,  *オーステナイト系ステンレス鋼 ,  *水素 ,  拡散係数 ,  *結晶方位 ,  走査 ,  結晶粒
準シソーラス用語： 水素濃度 ,  水素放出 ,  プリチャージ ,  EBSD ,  *水素拡散 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (5件)： 走査Kelvinプローブ力顕微鏡(SKPFM) ,  水素偏析と拡散 ,  オーステナイト系ステンレス鋼 ,  結晶学的配向 ,  EBSD

分類 (1件)： 変態組織,加工組織  (WB01030N)

タイトルに関連する用語 (7件)： 走査型 ,  Kelvinプローブ力顕微鏡 ,  オーステナイト系ステンレス鋼 ,  水素拡散 ,  結晶学的方位 ,  依存性 ,  発見