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J-GLOBAL ID：201702278241913903   整理番号：17A0107826

超高速衝突発生プラズマとそれらの論理チップへの干渉効果【JST・京大機械翻訳】

Plasma Generated by Hypervelocity Impact and Its Interference on Air-Borne Logic Circuit Chip

著者 (9件)： Wang Meng (School of Equipmen Engineering,Shenyang Ligong University) ,  Tang Enling (School of Equipmen Engineering,Shenyang Ligong University) ,  Xia Jin (School of Equipmen Engineering,Shenyang Ligong University) ,  Han Yafei (School of Equipmen Engineering,Shenyang Ligong University) ,  Zhang Shuang (School of Equipmen Engineering,Shenyang Ligong University) ,  Xu Mingyang (School of Equipmen Engineering,Shenyang Ligong University) ,  Zhang Lijiao (School of Equipmen Engineering,Shenyang Ligong University) ,  Yuan Jianfei (School of Equipmen Engineering,Shenyang Ligong University) ,  Wu Jin (School of Equipmen Engineering,Shenyang Ligong University)
資料名： Zhenkong Kexue yu Jishu Xuebao  (Zhenkong Kexue yu Jishu Xuebao)
巻： 36  号： 8  ページ： 910-916  発行年： 2016年 
JST資料番号： C2159A  ISSN： 1672-7126  CODEN： CKKSDV  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 中国 (CHN)  言語： 中国語 (ZH)

抄録/ポイント： 超高速衝突のプラズマとそれらの宇宙飛行体の論理チップに対する電磁干渉効果を理解し,評価するために,二次衝撃波の衝撃負荷実験を行い,超高速衝撃をシミュレーションした。2A12アルミニウム合金板のプラズマ温度と電子密度を所定の位置で測定するために郎MouEr三プローブを使用し,所定の位置における論理チップの干渉をモニターするために論理チップの信号収集システムを確立した。結果により、衝突速度が2.5~3.5KM/Sの範囲において、いずれもプラズマを生成でき、プラズマ電子温度と電子密度はいずれも衝撃速度に従って増加し、その中で電子密度と衝撃速度は指数関係を示した。超高速衝突発生プラズマの論理チップの動作状態に対する干渉は主に三つの形式で表現され、それぞれ転送信号の過渡中断後、回復、出力論理関係の一過性ひずみと論理ゲートの失効である。Data from the ScienceChina, LCAS. Translated by JST【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 衝撃波 ,  アルミニウム合金 ,  衝撃荷重 ,  プラズマ温度 ,  電子温度 ,  衝撃 ,  *プラズマ ,  電子密度 ,  電磁干渉
準シソーラス用語： 論理ゲート ,  衝撃速度 ,  衝突速度 ,  *超高速 ,  *干渉効果 ,  *超高速衝突 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (5件)： Hypervelocity impact ,  Plasma ,  Electromagnetic interference ,  Triple probe ,  Logic chip

分類 (1件)： 宇宙飛行体  (QK08000Y)

タイトルに関連する用語 (4件)： 高速衝突 ,  プラズマ ,  論理 ,  干渉効果