特許
J-GLOBAL ID:201803020368895136
垂直磁化膜用下地、垂直磁化膜構造、垂直MTJ素子及びこれらを用いた垂直磁気記録媒体
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (2件):
續 成朗
, 西澤 利夫
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願2016-508805
特許番号:特許第6288658号
出願日: 2015年03月19日
請求項(抜粋):
【請求項1】 hcp構造を有する金属であって、(001)面方位の立方晶系単結晶基板もしくは(001)面方位をもって成長した立方晶系配向膜に対して、[0001]方位が42°〜54°の範囲の角度をなすことを特徴とする垂直磁化膜用下地。
IPC (5件):
G11B 5/738 ( 200 6.01)
, G11B 5/65 ( 200 6.01)
, G11B 5/84 ( 200 6.01)
, H01F 10/26 ( 200 6.01)
, H01L 43/10 ( 200 6.01)
FI (5件):
G11B 5/738
, G11B 5/65
, G11B 5/84 Z
, H01F 10/26
, H01L 43/10
引用特許:
出願人引用 (5件)
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記憶素子、記憶装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願2011-104877
出願人:ソニー株式会社
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磁気抵抗素子および磁気メモリ
公報種別:公開公報
出願番号:特願2009-079633
出願人:株式会社東芝, 国立大学法人東北大学
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特許第8609263号
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審査官引用 (5件)
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記憶素子、記憶装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願2011-104877
出願人:ソニー株式会社
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磁気抵抗素子および磁気メモリ
公報種別:公開公報
出願番号:特願2009-079633
出願人:株式会社東芝, 国立大学法人東北大学
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特許第8609263号
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