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J-GLOBAL ID：200902143334090709   整理番号：94A0424339

活性化入力対を用いた組合せ回路の多重縮退故障の診断に関する一考察

A Study for Multiple Fault Diagnosis in Combinational Circuits Using Sensitizing Input-Pairs.

著者 (3件)： 柳田宣広 (愛媛大 工) ,  高橋寛 (愛媛大 工) ,  高松雄三 (愛媛大 工)
資料名： 電子情報通信学会論文誌 D-1  (IEICE Transactions on Information and Systems, Pt.1 (Japanese Edition))
巻： 77  号： 4  ページ： 318-327  発行年： 1994年04月 
JST資料番号： S0757B  ISSN： 0915-1915  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 組合せ回路の多重縮退故障に対する活性化入力対を用いた新しい診...

シソーラス用語： 故障診断 ,...

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分類 (2件)： 論理回路  (NC05070B) ,  固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G)

引用文献 (14件)：

• CHANG, H. Y. Fault diagnosis of digital systems. 1970
• RYAN, P. G. Two-stage fault location. Proc. ITC. 1991, 963-968
• ABRAMOVICI, M. Multiple fault diagnosis in combinational circuits based on an effect-cause analysis. IEEE Trans. Comput. 1980, C-29, 6, 451-460
• TAMAMA, T. Integrating an electron-beam system into VLSI fault diagnosis. IEEE Design & Test. 1986, 3, 4, 23-29
• ABRAMOVICI, M. A maximal Resolution Guided-probe testing algorithm. Proc. 18the DAC. 1981, 189-195

タイトルに関連する用語 (5件)： 活性化 ,  組合せ回路 ,  多重 ,  縮退故障 ,  診断