文献

J-GLOBAL ID：200902159394252817   整理番号：99A0730366

順序回路のブリッジ故障に対するIDDQテストのための静的なテスト系列圧縮法

Static Test Compaction for IDDQ Testing of Bridging Faults in Sequential Circuits.

著者 (4件)： 樋上喜信 (愛媛大 工) ,  SALUJA K K (Univ. Wisconsin, Madison, USA) ,  高松雄三 (愛媛大 工) ,  樹下行三 (大阪大 大学院)
資料名： 電子情報通信学会論文誌 D-1  (IEICE Transactions on Information and Systems, Pt.1 (Japanese Edition))
巻： J82-D-1  号： 7  ページ： 879-887  発行年： 1999年07月25日 
JST資料番号： S0757B  ISSN： 0915-1915  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 本論文では,IDDQテストを仮定した静的なテスト系列圧縮法を...

シソーラス用語： *順序回路 ,...
準シソーラス用語： IDDQテスト

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分類 (2件)： 固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G) ,  論理回路  (NC05070B)

引用文献 (15件)：

• HSIAO, M. S. Fast algorithm for static compaction of sequential circuit test vectors. Proc. VLSI Test Sympo. 1996, 188-195
• POMERANZ, I. On static compaction of test sequences for synchronous sequential circuits. Proc. Design Automation Conf. 1996, 215-220
• CORNO, F. New static compaction techniques of test sequences for sequential circuits. Proc. Design and Test Conf. 1997, 37-43
• REDDY, R. S. Compact test generation for briging faults under IDDQ testing. Proc. VLSI Test Symp. 1995, 310-316
• KONDO, H. An efficient compact test generator for IDDQ testing. Proc. Asian Test Sym. 1996, 177-182

タイトルに関連する用語 (4件)： 順序回路 ,  ブリッジ故障 ,  テスト ,  系列