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J-GLOBAL ID：200902160514119456   整理番号：97A0137487

テスティング技術 信号伝搬時間を利用した組合せ回路の多重縮退故障に対する一診断法

A Method for Diagnosing Multiple Stuck-at Faults in Combinational Circuits by Using Signal Propagation Time.

著者 (3件)： 高橋寛 (愛媛大 工) ,  柳田宣広 (愛媛大 工) ,  高松雄三 (愛媛大 工)
資料名： 電子情報通信学会論文誌 D-1  (IEICE Transactions on Information and Systems, Pt.1 (Japanese Edition))
巻： 79  号： 12  ページ： 1131-1140  発行年： 1996年12月 
JST資料番号： S0757B  ISSN： 0915-1915  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 一般に回路を構成するゲートはある遅延時間を有するので,その回...

シソーラス用語： 組合せ回路 ,...

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分類 (1件)： 固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G)

引用文献 (15件)：

• CHANG, H. Y. Fault diagnosis of digital systems. 1970
• ABRAMOVICI, M. Multiple fault diagnosis in combinational circuits based on effect-cause analysis. IEEE Trans. Comput. 1980, C-29, 6, 451-460
• TAMAMA, T. Integrating an electron-beam system into VLSI fault diagnosis. IEEE Design & Test. 1986, 3, 4, 23-29
• ABRAMOVICI, M. A maximal resolution guided-probe testing algorithm. Proc. 18th DAC. 1981, 189-195
• 山田輝彦. 組合せ回路における多重縮退故障の診断法. 信学論(D-I). 1991, J74-D-I, 1, 50-57

タイトルに関連する用語 (5件)： 伝搬時間 ,  組合せ回路 ,  多重 ,  縮退故障 ,  診断法