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J-GLOBAL ID：200902201127680997   整理番号：05A0076882

不確かなテスト集合による多重縮退故障の診断

Diagnosis for Multiple Stuck-at Faults by Ambiguous Test Set

著者 (4件)： 山本幸大 (愛媛大 大学院理工学研究科) ,  高橋寛 (愛媛大 工) ,  樋上喜信 (愛媛大 工) ,  高松雄三 (愛媛大 工)
資料名： 電子情報通信学会技術研究報告  (IEICE Technical Report (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))
巻： 104  号： 478(VLD2004 61-96)  ページ： 49-54  発行年： 2004年11月25日 
JST資料番号： S0532B  ISSN： 0913-5685  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 半導体の微細化に伴って多重縮退故障に対する診断法の開発が望ま...

シソーラス用語： *LSI【IC】 ,...
準シソーラス用語： 多重縮退故障 ,...

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分類 (2件)： 半導体集積回路  (NC03162T) ,  固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G)

タイトルに関連する用語 (5件)： テスト ,  集合 ,  多重 ,  縮退故障 ,  診断