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J-GLOBAL ID：200902209445330688   整理番号：07A0187762

BIST環境における単一縮退故障診断法の評価実験

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著者 (5件)：
大津潤一

大津潤一 について

(愛媛大 大学院)

愛媛大 大学院 について

, 
高橋寛

高橋寛 について

(愛媛大 大学院)

愛媛大 大学院 について

, 
樋上喜信

樋上喜信 について

(愛媛大 大学院)

愛媛大 大学院 について

, 
山崎浩二

山崎浩二 について

(明治大)

明治大 について

, 
高松雄三

高松雄三 について

(愛媛大 大学院)

愛媛大 大学院 について


資料名：
電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM)  (Shikoku-Section Joint Convention Record of the Institutes of Electrical and Related Engineers (CD-ROM))

電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) について


巻： 2006  ページ： ROMBUNNO.10-8  発行年： 2006年09月12日 
JST資料番号： L1738B  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)
抄録/ポイント：
抄録/ポイント
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組込み自己テスト(BIST)環境における標記診断法の評価実験...
シソーラス用語：
シソーラス用語/準シソーラス用語
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*BIST

BIST について

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分類 (1件)：
分類
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固体デバイス計測・試験・信頼性 
(NC03040G)

固体デバイス計測・試験・信頼性 について

タイトルに関連する用語 (5件)：
タイトルに関連する用語
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BIST

BIST について

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環境

環境 について

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縮退故障

縮退故障 について

, 
診断法

診断法 について

, 
評価実験

評価実験 について


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