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J-GLOBAL ID：200902217987202891   整理番号：06A0246960

検出/非検出情報に基づくオープン故障の一診断法

A Method for Diagnosing Open Faults Using Detecting/Un-detecting Information

著者 (4件)： 佐藤雄一 (愛媛大 大学院理工学研究科) ,  高橋寛 (愛媛大 工) ,  樋上喜信 (愛媛大 工) ,  高松雄三 (愛媛大 工)
資料名： 電子情報通信学会論文誌 D  (IEICE Transactions on Information and Systems (Japanese Edition))
巻： J89-D  号： 4  ページ： 778-787  発行年： 2006年04月01日 
JST資料番号： S0757C  ISSN： 1880-4535  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 微細化技術の進展並びに高集積化・多層化に伴い,配線の接続不良...

シソーラス用語： *故障診断 ,...
準シソーラス用語： オープン故障 ,...

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分類 (1件)： 固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G)

引用文献 (25件)：

• S. M. Reddy, I. Pomeranz, H. Tang, S. Kajihara, and K. Kinoshita, “On testing interconnect open defects in combinational logic circuits with stems of large fanout,” Proc. Int. Test Conf., pp. 83-89, 2002.
• S. Venkataraman and S. B. Drummonds, “A technique for logic fault diagnosis of interconnect open defects,” Proc. VLSI Test Sympo., pp. 313-318, 2000.
• S.-Y. Huang, “Speeding up the byzantine fault diagnosis using symbolic simulation,” Proc. VLSI Test Sympo., pp. 193-198, 2002.
• S.-Y. Huang, “Diagnosis of byza. ntine open-segment faults,” Proc. Asian Test Sympo., pp. 248-253, 2002.
• S.-Y. Huang, “Symbolic inject-and-evaluation paradigm for byzantine fault diagnosis,” J. Electronic Testing: Theory and Applications, vol.19, no.2, pp. 161-172, 2003.

タイトルに関連する用語 (3件)： 検出情報 ,  オープン故障 ,  診断法