文献

J-GLOBAL ID：200902244169803330   整理番号：04A0261462

テストの検出/非検出情報に基づくオープン故障の診断法

Diagnosis for Open Faults Based on Detecting/Un-detecting Information on Tests

著者 (4件)： 佐藤雄一 (愛媛大 大学院理工学研究科) ,  高橋寛 (愛媛大 工) ,  樋上喜信 (愛媛大 工) ,  高松雄三 (愛媛大 工)
資料名： 電子情報通信学会技術研究報告  (IEICE Technical Report (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))
巻： 103  号： 668(DC2003 90-102)  ページ： 1-6  発行年： 2004年02月20日 
JST資料番号： S0532B  ISSN： 0913-5685  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： LSIの微細化技術の進展ならびに高集積化・多層化に伴い,配線...

シソーラス用語： *BIST ,...
準シソーラス用語： オープン故障

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分類 (1件)： 固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G)

引用文献 (11件)：

• REDDY, S. M. On Testing Interconnect Open Defects in Combinational Logic Circuits with Stems of Large Fanout. Proc. ITC, 2002. 2002, 83-87
• VENKATARAMAN, S. A Technique for Logic Fault Diagnosis of Interconnect Open Defects. Proc. VTS, 2000. 2000, 313-318
• HUANG, S-Y. Speeding Up The Byzantine Fault Diagnosis Using Symbolic Simulation. Proc. VTS, 2002. 2002, 193-198
• HUANG, S-Y. Diagnosis of Byzantine Open-Segment Faults. Proc. ATS, 2002. 2002, 248-253
• HUANG, S-Y. Symbolic Injec-and-Evaluation Paradigm for Byzantine Fault Diagnosis. JEETA. 2003, 19, 161-172

タイトルに関連する用語 (4件)： テスト ,  検出情報 ,  オープン故障 ,  診断法