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J-GLOBAL ID：200902251175855054   整理番号：05A0076883

不確かなテスト集合によるブリッジ故障診断

Bridging Fault Diagnosis Using Ambiguous Test Set

著者 (5件)： 西山隆広 (愛媛大 大学院理工学研究科) ,  樋上喜信 (愛媛大 工) ,  山崎浩二 (明治大 情報コミュニケーション) ,  高橋寛 (愛媛大 工) ,  高松雄三 (愛媛大 工)
資料名： 電子情報通信学会技術研究報告  (IEICE Technical Report (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))
巻： 104  号： 478(VLD2004 61-96)  ページ： 55-60  発行年： 2004年11月25日 
JST資料番号： S0532B  ISSN： 0913-5685  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 本稿では,不確かな検出テスト集合と非検出テスト集合を用いて組...

シソーラス用語： *論理回路 ,...
準シソーラス用語： テスト集合 ,...

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分類 (2件)： 論理回路  (NC05070B) ,  固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G)

タイトルに関連する用語 (4件)： テスト ,  集合 ,  ブリッジ ,  故障診断