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J-GLOBAL ID：200902256150181034   整理番号：05A0909262

組合せ回路および順序回路に対する診断用テスト圧縮法

Diagnostic Test Compaction for Combinational and Sequential Circuits

著者 (5件)： 樋上喜信 (愛媛大 工) ,  SALUJA Kewal K. (Univ. Wisconsin-Madison) ,  高橋寛 (愛媛大 工) ,  小林真也 (愛媛大 工) ,  高松雄三 (愛媛大 工)
資料名： 電子情報通信学会技術研究報告  (IEICE Technical Report (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))
巻： 105  号： 267(ICD2005 95-105)  ページ： 25-30  発行年： 2005年09月01日 
JST資料番号： S0532B  ISSN： 0913-5685  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 近年,論理回路のテストや故障診断におけるコスト削減が重要にな...

シソーラス用語： *組合せ回路 ,...

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分類 (2件)： 半導体集積回路  (NC03162T) ,  固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G)

タイトルに関連する用語 (4件)： 組合せ回路 ,  順序回路 ,  診断 ,  テスト