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J-GLOBAL ID：200902259926547386   整理番号：06A0570126

低速陽電子ビームを用いた陽電子の薄膜透過実験

著者 (13件)： 伊東健一 (筑波大) ,  大塚崇 (筑波大) ,  上殿明良 (筑波大) ,  阿多誠介 (東京工大 理工) ,  扇澤敏明 (東京工大 理工) ,  藤浪眞紀 (千葉大 工) ,  鈴木良一 (AIST) ,  大平俊行 (AIST) ,  小林慶規 (AIST) ,  松谷幸 (日本電子) ,  栗原俊一 (KEK) ,  赤羽隆史 (NIMS) ,  堂山昌男 (帝京科大)
資料名： アイソトープ・放射線研究発表会要旨集
巻： 43rd  ページ： 85  発行年： 2006年06月20日 
JST資料番号： S0636B  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： 陽電子ビーム ,...

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分類 (1件)： 電子・陽電子との相互作用一般  (BK16051U)

タイトルに関連する用語 (4件)： 低速陽電子ビーム ,  陽電子 ,  膜透過 ,  実験