文献
J-GLOBAL ID：200902276183202950   整理番号：07A0187760

縮退故障テストに基づくオープン故障のテスト生成

  • 出版者サイト 複写サービスで全文入手
  • 高度な検索・分析はJDreamⅢで {{ this.onShowJLink("http://jdream3.com/lp/jglobal/index.html?docNo=07A0187760&from=J-GLOBAL&jstjournalNo=L1738B") }}
著者 (4件)：
吉川達

吉川達 について

(愛媛大 大学院)

愛媛大 大学院 について

, 
高橋寛

高橋寛 について

(愛媛大 大学院)

愛媛大 大学院 について

, 
樋上喜信

樋上喜信 について

(愛媛大 大学院)

愛媛大 大学院 について

, 
高松雄三

高松雄三 について

(愛媛大 大学院)

愛媛大 大学院 について


資料名：
電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM)  (Shikoku-Section Joint Convention Record of the Institutes of Electrical and Related Engineers (CD-ROM))

電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) について


巻： 2006  ページ： ROMBUNNO.10-6  発行年： 2006年09月12日 
JST資料番号： L1738B  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)
抄録/ポイント：
抄録/ポイント
文献の概要を数百字程度の日本語でまとめたものです。
部分表示の続きは、JDreamⅢ(有料)でご覧頂けます。
J-GLOBALでは書誌(タイトル、著者名等)登載から半年以上経過後に表示されますが、医療系文献の場合はMyJ-GLOBALでのログインが必要です。
隣接信号線の影響を考慮したオープン故障モデルに対して縮退故障...
シソーラス用語：
シソーラス用語/準シソーラス用語
文献のテーマを表すキーワードです。
部分表示の続きはJDreamⅢ（有料）でご覧いただけます。
J-GLOBALでは書誌(タイトル、著者名等)登載から半年以上経過後に表示されますが、医療系文献の場合はMyJ-GLOBALでのログインが必要です。
*故障検出

故障検出 について

,...
   続きはJDreamIII（有料）にて  {{ this.onShowAbsJLink("http://jdream3.com/lp/jglobal/index.html?docNo=07A0187760&from=J-GLOBAL&jstjournalNo=L1738B") }}
分類 (1件)：
分類
JSTが定めた文献の分類名称とコードです
固体デバイス計測・試験・信頼性 
(NC03040G)

固体デバイス計測・試験・信頼性 について

タイトルに関連する用語 (4件)：
タイトルに関連する用語
J-GLOBALで独自に切り出した文献タイトルの用語をもとにしたキーワードです
縮退故障

縮退故障 について

, 
テスト

テスト について

, 
オープン故障

オープン故障 について

, 
テスト生成

テスト生成 について


前のページに戻る

TOP

BOTTOM