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J-GLOBAL ID：201102272770828805   整理番号：11A0710488

欠陥検出テストのためのテストパターン選択

Test Pattern Selection for Defect-Aware Test

著者 (4件)： 古谷博司 (愛媛大 大学院理工学研究科) ,  酒井孝郎 (愛媛大 大学院理工学研究科) ,  樋上喜信 (愛媛大 大学院理工学研究科) ,  高橋寛 (愛媛大 大学院理工学研究科)
資料名： 電子情報通信学会技術研究報告  (IEICE Technical Report (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))
巻： 110  号： 413(DC2010 59-69)  ページ： 45-50  発行年： 2011年02月07日 
JST資料番号： S0532B  ISSN： 0913-5685  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 微細化加工技術の進展に伴って,配線の欠陥によって生じる不良モードの多様化が問題となっている。そのため,従来の縮退故障および遷移故障に対するテストパターンでは十分なテストができない。本稿では,まず,故障励起関数および活性化経路評価関数に基づいて遷移故障テストパターンを評価するメトリクスを提案する。次に,それらのメトリクスに基づいてn回検出テスト集合からテストパターンを選択する手法を提案する。評価実験結果から,提案手法により得られたテストパターン集合は,より少ないテストパターン数でより多くの故障モデルを検出できることを示す。(著者抄録)

シソーラス用語： *CAD【計算機】 ,  *故障検出 ,  *配線設計 ,  *LSI【IC】 ,  テストパターン ,  評価試験 ,  モデル ,  *微細加工 ,  故障モデル
準シソーラス用語： *テスト生成 ,  *欠陥検出

分類 (4件)： CAD,CAM  (JE10000A) ,  信頼性  (KB04040H) ,  半導体集積回路  (NC03162T) ,  固体デバイス製造技術一般  (NC03030V)

引用文献 (16件)：

• MA, S. C. An experimental chip to evaluate test techniques experimental results. Proc. Int. Test Conf., 1995. 1995, 663-672
• LEE, S. A new ATPG algorithm to limit test set size and achieve multiple detections of all Faults. Proc. Design, Automation and Test in Europe, 2002. 2002, 94-99
• BLANTON, R. D. Analyzing the effectiveness of multiple-detect test sets. Proc. Int. Test Conf., 2003. 2003, 876-885
• BRNWARE, B. Impact of multiple-detect test patterns on product quality. Proc. Int. Test Conf., 2003. 2003, 1031-1040
• TANG, H. Defect aware test patterns. Proc. Design, Automation and Test in Europe, 2005. 2005, 450-455

タイトルに関連する用語 (3件)： 欠陥検出 ,  テスト ,  テストパターン