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J-GLOBAL ID：201302282312598035   整理番号：13A1855303

IRドロップを考慮した遷移故障に対するテストパターン生成

著者 (3件)： 井上大画 (愛媛大 大学院理工学研究科) ,  樋上喜信 (愛媛大 大学院理工学研究科) ,  高橋寛 (愛媛大 大学院理工学研究科)
資料名： 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM)  (Shikoku-Section Joint Convention Record of the Institutes of Electrical and Related Engineers (CD-ROM))
巻： 2013  ページ： ROMBUNNO.10-7  発行年： 2013年09月20日 
JST資料番号： L1738B  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *電気故障 ,  *テストパターン ,  発生 ,  *電圧降下 ,  LSI【IC】 ,  信号
準シソーラス用語： テストパターン生成 ,  *遷移故障

分類 (1件)： 固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G)

タイトルに関連する用語 (4件)： Ir ,  ドロップ ,  遷移故障 ,  テストパターン生成