文献
J-GLOBAL ID：201402237792209531
整理番号：14A1258486 消費電力制約下での焼きなまし法を利用したテストパターン変更法
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井上大画
(愛媛大 大学院理工学研究科)
, 愛媛大 大学院理工学研究科 について
WANG S.
WANG S. について
(愛媛大 大学院理工学研究科)
, 愛媛大 大学院理工学研究科 について
樋上喜信
(愛媛大 大学院理工学研究科)
, 愛媛大 大学院理工学研究科 について
高橋寛
(愛媛大 大学院理工学研究科)
愛媛大 大学院理工学研究科 について
資料名：
電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM)
(Shikoku-Section Joint Convention Record of the Institutes of Electrical and Related Engineers (CD-ROM))
電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) について
巻： 2014 ページ： ROMBUNNO.10-8 発行年： 2014年09月12日
JST資料番号： L1738B 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報 発行国： 日本 (JPN) 言語： 日本語 (JA)
シソーラス用語：
準シソーラス用語：
シソーラス用語/準シソーラス用語
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LSI【IC】
, LSI【IC】 について
*回路試験
, 回路試験 について
シミュレーテッドアニーリング
, シミュレーテッドアニーリング について
消費電力
, 消費電力 について
*発生
, 発生 について
ソフトウェア開発
, ソフトウェア開発 について
*最適化問題
, 最適化問題 について
遅れ
, 遅れ について
故障
故障 について
準シソーラス用語：
シソーラス用語/準シソーラス用語
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スキャンテスト法
, スキャンテスト法 について
*テストパターン生成
, テストパターン生成 について
遅延
, 遅延 について
遅延故障
, 遅延故障 について
低消費電力
, 低消費電力 について
模擬焼なまし法
模擬焼なまし法 について
分類 (2件)：
分類
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その他のシステムプログラミング
JSTが定めた文献の分類名称とコードです
(JD03070M)
, 半導体集積回路
その他のシステムプログラミング について
(NC03162T)
半導体集積回路 について
タイトルに関連する用語 (4件)：
タイトルに関連する用語
J-GLOBALで独自に切り出した文献タイトルの用語をもとにしたキーワードです
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消費電力
, 消費電力 について
制約
, 制約 について
焼きなまし
, 焼きなまし について
テストパターン
テストパターン について
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