文献
J-GLOBAL ID：201402254563897140
整理番号：14A1258488 遺伝的アルゴリズムを利用した診断用テスト生成
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門田一樹
(愛媛大 大学院理工学研究科)
, 愛媛大 大学院理工学研究科 について
今村亮太
(愛媛大 大学院理工学研究科)
, 愛媛大 大学院理工学研究科 について
WANG S.
WANG S. について
(愛媛大 大学院理工学研究科)
, 愛媛大 大学院理工学研究科 について
樋上喜信
(愛媛大 大学院理工学研究科)
, 愛媛大 大学院理工学研究科 について
高橋寛
(愛媛大 大学院理工学研究科)
愛媛大 大学院理工学研究科 について
資料名：
電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM)
(Shikoku-Section Joint Convention Record of the Institutes of Electrical and Related Engineers (CD-ROM))
電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) について
巻： 2014 ページ： ROMBUNNO.10-10 発行年： 2014年09月12日
JST資料番号： L1738B 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報 発行国： 日本 (JPN) 言語： 日本語 (JA)
シソーラス用語：
準シソーラス用語：
シソーラス用語/準シソーラス用語
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*遺伝的アルゴリズム
, 遺伝的アルゴリズム について
試験
, 試験 について
*半導体集積回路
, 半導体集積回路 について
技術
, 技術 について
微細加工
, 微細加工 について
*故障診断
, 故障診断 について
発生
, 発生 について
分類
, 分類 について
故障
, 故障 について
故障分類
, 故障分類 について
微細加工技術
, 微細加工技術 について
*進化的計算
進化的計算 について
準シソーラス用語：
シソーラス用語/準シソーラス用語
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テストパターン生成
, テストパターン生成 について
テスト生成
テスト生成 について
分類 (2件)：
分類
JSTが定めた文献の分類名称とコードです
半導体集積回路
JSTが定めた文献の分類名称とコードです
(NC03162T)
, その他のシステムプログラミング
半導体集積回路 について
(JD03070M)
その他のシステムプログラミング について
タイトルに関連する用語 (3件)：
タイトルに関連する用語
J-GLOBALで独自に切り出した文献タイトルの用語をもとにしたキーワードです
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遺伝的アルゴリズム
, 遺伝的アルゴリズム について
診断
, 診断 について
テスト生成
テスト生成 について
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