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J-GLOBAL ID：201402256711970459   整理番号：14A1258487

オンチップセンサを利用した抵抗性オープン故障診断

著者 (4件)： 竹田和生 (愛媛大 大学院理工学研究科) ,  WANG S. (愛媛大 大学院理工学研究科) ,  樋上喜信 (愛媛大 大学院理工学研究科) ,  高橋寛 (愛媛大 大学院理工学研究科)
資料名： 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM)  (Shikoku-Section Joint Convention Record of the Institutes of Electrical and Related Engineers (CD-ROM))
巻： 2014  ページ： ROMBUNNO.10-9  発行年： 2014年09月12日 
JST資料番号： L1738B  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： 超小形回路技術 ,  センサ ,  切断 ,  *電気故障 ,  *オン抵抗 ,  機能 ,  BIST ,  発生 ,  CMOSセンサ ,  自己診断機能 ,  *断線
準シソーラス用語： *オープン故障 ,  オンチップ ,  テストパターン生成 ,  組込み自己テスト

分類 (3件)： 半導体集積回路  (NC03162T) ,  その他のシステムプログラミング  (JD03070M) ,  計測機器一般  (AD02000X)

タイトルに関連する用語 (2件)： 抵抗性 ,  故障診断