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J-GLOBAL ID：201402259066496886   整理番号：13A1947997

波長角度同時分散型のX線反射率測定による高分子の界面構造

著者 (6件)： 荒川悦雄 (東京学芸大) ,  VOEGELI Wolfgang (東京学芸大) ,  松下正 (高エネルギー加速器研究機構 物質構造科研) ,  矢野陽子 (近畿大) ,  関隆広 (名古屋大) ,  永野修作 (名古屋大)
資料名： 表面科学学術講演会講演要旨集  (表面科学学術講演会要旨集)
巻： 33rd  ページ： 166  発行年： 2013年11月26日 
JST資料番号： L1366A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： 反射率 ,  X線反射 ,  *計測 ,  高分子 ,  *表面構造 ,  X線反射率 ,  *界面構造 ,  *X線反射率法 ,  *構造
準シソーラス用語： *X線反射率測定

分類 (2件)： 固-固界面  (CB12060M) ,  X線技術  (BA02060D)

タイトルに関連する用語 (4件)： 波長 ,  X線反射率測定 ,  高分子 ,  界面構造