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J-GLOBAL ID：201502236540148646   整理番号：15A0467880

IR-dropを考慮した抵抗性オープン故障の診断用パターンの選択手法

A Simulated Annealing based Low IR Drop Pattern Selection Method for Resistive Open Fault Diagnosis

著者 (5件)： WANG Senling (愛媛大 大学院理工学研究科) ,  井上大画 (愛媛大 大学院理工学研究科) ,  AL-AWADHI Hanan T. (愛媛大 大学院理工学研究科) ,  樋上喜信 (愛媛大 大学院理工学研究科) ,  高橋寛 (愛媛大 大学院理工学研究科)
資料名： 電子情報通信学会技術研究報告  (IEICE Technical Report (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))
巻： 114  号： 446(DC2014 78-87)  ページ： 55-60  発行年： 2015年02月06日 
JST資料番号： S0532B  ISSN： 0913-5685  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： テスト時の過剰のIRドロップ(瞬時電圧降下)による抵抗性オープン故障診断の結果が誤診断となる問題がある。本稿では,既存の抵抗性オープン故障の検出パターン[7]からIRドロップの低い診断用パターンを選択する手法を提案する。提案手法は,抵抗性オープン故障の最長活性化経路と励起条件を維持しながらドントケア抽出を行い,ドントケア埋め込みによって診断用パターンを求める。効果的なIRドロップ低減を実現するため,焼きなまし最適化アルゴリズムをベースにしたドントケア埋め込み手法を提案する。実験結果より,提案手法によってIRドロップが低減できることを示す。(著者抄録)

シソーラス用語： *超LSI ,  切断 ,  *電気故障 ,  *故障診断 ,  埋込み【挿入】 ,  シミュレーテッドアニーリング ,  *テストパターン ,  回路試験 ,  電圧降下 ,  評価試験 ,  ベンチマーク回路 ,  断線
準シソーラス用語： VLSI ,  オープン故障 ,  テストパターン生成 ,  瞬時電圧降下

分類 (2件)： 固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G) ,  集積回路一般  (NC03161C)

引用文献 (12件)：

• R.R. Montanes, J.P. de Gyvez and P. Volf, "Resistance characterization for weak open defects," IEEE Design & Test of Computers, vol.19, no.5, pp.18-26, Sep. 2002.
• S. K. Goel, K. Chakrabarty, ed., "Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits," CRC Press, ISBN: 1439829411, Boca Raton, FL, 2013.
• X. Lin, K.-H. Tsai, C. Wang, M. Kassab, J. Rajski, T. Kobayashi, R. Klingenberg, Y. Sato, S. Hamada, and T. Aikyo, "Timing-aware ATPG for high quality at-speed testing of small delay defects," Proc. IEEE Asian Test Symp., pp. 139-146, 2006.
• Dawen Xu, Huawei Li, Ghofrani, A., Kwang-Ting Cheng, Yinhe Han and Xiaowei Li, "Test-Quality Optimization for Variable n-Detections of Transition Faults," IEEE Trans. on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems, vol.22, no.8, pp.1738,1749, Aug. 2014.
• Kavousianos, X. and Chakrabarty, K., "Generation of Compact Stuck-At Test Sets Targeting Unmodeled Defects," IEEE Trans. on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems, vol.30, no.5, pp.787-791, May 2011.

タイトルに関連する用語 (5件)： Ir ,  抵抗性 ,  オープン故障 ,  診断 ,  手法