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J-GLOBAL ID：202202277995344414   整理番号：22A0134825

マルチサイクルテストの導入による組込自己診断の故障診断能力評価

Evaluation of Fault Diagnosis Capability of BISD under Multi-Cycle Testing

著者 (5件)： WANG Y. (愛媛大 大学院理工学研究科) ,  Wang S. (愛媛大 大学院理工学研究科) ,  樋上喜信 (愛媛大 大学院理工学研究科) ,  甲斐博 (愛媛大 大学院理工学研究科) ,  高橋寛 (愛媛大 大学院理工学研究科)
資料名： 電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM)  (Shikoku-Section Joint Convention Record of the Institutes of Electrical and Related Engineers (CD-ROM))
巻： 2021  ページ： ROMBUNNO.10-10  発行年： 2021年09月18日 
JST資料番号： L1738B  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

本文一部表示： 1.まえがき.故障診断とは集積回路の欠陥に起因する故障の箇所と種類を特定する技術である.集積回路の機能安全を保証するために,回路の稼働中に起こる故障をリアルタイムに区別する組込み自己診断(BISD)技術が必要である[1].本研究では,BIS...【本文一部表示】

シソーラス用語： 集積回路 ,  *故障 ,  *故障診断 ,  テストパターン ,  2サイクル ,  ベンチマーク回路 ,  機能安全
準シソーラス用語： *自己診断 ,  テスト生成 ,  故障シミュレーション ,  テストパターン生成 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G)

タイトルに関連する用語 (4件)： 組込 ,  自己診断 ,  故障診断 ,  能力評価