諏訪智之

スワトモユキ | Suwa Tomoyuki

所属機関・部署：
職名：准教授
ホームページURL (2件)： http://db.tohoku.ac.jp/whois/detail/a62a05f94df50aa2f8207b4ab325399e.html , http://db.tohoku.ac.jp/whois/e_detail/a62a05f94df50aa2f8207b4ab325399e.html

研究分野 (3件)：電気電子材料工学 , 薄膜、表面界面物性 , 電子デバイス、電子機器

研究キーワード (1件)：電子デバイス、半導体、表面界面物性、計測技術

競争的資金等の研究課題 (4件)：

2022 - 2025 ポリイミド基板上に集積した多数TFTの自己整合的な特性ばらつき均一化技術の確立
2010 - 2015 原子オーダ平坦な界面を有する3次元立体構造トランジスタの製造プロセスに関する研究
2007 - 2009 超高感度・高分解能界面分析によるゲート絶縁膜/シリコン界面構造の決定
2006 - 2007 高品質・高信頼性絶縁膜の形成プロセスに関する研究

論文 (84件)：

Tetsuya Goto, Tomoyuki Suwa, Keita Katayama, Shu Nishida, Hiroshi Ikenoue, Shigetoshi Sugawa. Threshold voltage uniformity improvement by introducing charge injection tuning for low-temperature poly-Si thin film transistors with metal/oxide/nitride/oxide/silicon structure. Japanese Journal of Applied Physics. 2024. 63. 2. 02SP51-02SP51
Y. Sakai, Y. Shiba, T. Inada, T. Goto, T. Suwa, T. Oikawa, A. Hamaya, A. Sutoh, T. Morimoto, Y. Shirai, et al. Visualization and Analysis of Temporal and Steady-State Gas Concentration in Process Chamber Using 70-dB SNR 1,000 fps Absorption Imaging System. IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing. 2023. 1-1
Takezo Mawaki, Akinobu Teramoto, Katsutoshi Ishii, Yoshinobu Shiba, Rihito Kuroda, Tomoyuki Suwa, Shuji Azumo, Akira Shimizu, Kota Umezawa, Yasuyuki Shirai, et al. Adsorption and surface reaction of isopropyl alcohol on SiO2 surfaces. JOURNAL OF VACUUM SCIENCE & TECHNOLOGY A. 2022. 40. 5
Tetsu Oikawa, Rihito Kuroda, Keigo Takahashi, Yoshinobu Shiba, Yasuyuki Fujihara, Hiroya Shike, Maasa Murata, Chia-Chi Kuo, Yhang Ricardo Sipauba Carvalho da Silva, Tetsuya Goto, et al. A 70-dB SNR High-Speed Global Shutter CMOS Image Sensor for in Situ Fluid Concentration Distribution Measurements. IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES. 2022. 69. 6. 2965-2972
Koga Saito, Hayato Suzuki, Hyeonwoo Park, Rihito Kuroda, Akinobu Teramoto, Tomoyuki Suwa, Shigetoshi Sugawa. A high-precision current measurement platform applied for statistical measurement of discharge current transient spectroscopy of traps in SiN dielectrics. Japanese Journal of Applied Physics. 2021. 60. 8. 086501-086501

MISC (100件)：

齊藤宏河, 鈴木達彦, 光田薫未, 間脇武蔵, 間脇武蔵, 諏訪智之, 寺本章伸, 寺本章伸, 須川成利, 黒田理人, et al. インピーダンス計測プラットフォーム技術を用いた機能性薄膜に関する電気的特性の統計的計測. 応用物理学会秋季学術講演会講演予稿集(CD-ROM). 2023. 84th
後藤哲也, 後藤哲也, 諏訪智之, 諏訪智之, 片山慶太, 西田脩, 池上浩, 須川成利. MONOS型低温ポリシリコンTFTにおけるしきい値電圧制御. 応用物理学会秋季学術講演会講演予稿集(CD-ROM). 2023. 84th
Tetsu Oikawa, Rihito Kuroda, Keigo Takahashi, Yoshinobu Shiba, Yasuyuki Fujihara, Hiroya Shike, Maasa Murata, Chia-Chi Kuo, Yhang Ricardo Sipauba Carvalho da Silva, Tetsuya Goto, Tomoyuki Suwa, Tatsuo Morimoto, Yasuyuki Shirai, Masaaki Nagase, Nobukazu Ikeda, Shigetoshi Sugawa. A 1000fps High SNR Voltage-domain Global Shutter CMOS Image Sensor with Two-stage LOFIC for In-Situ Fluid Concentration Distribution Measurements. International Image Sensor Workshop. 2021. 258-261
Takezo Mawaki, Akinobu Teramoto, Katsutoshi Ishii, Yoshinobu Shiba, Tomoyuki Suwa, Shuji Azumo, Akira Shimizu, Kota Umezawa, Rihito Kuroda, Yasuyuki Shirai, Shigetoshi Sugawa. Analysis of Reaction and Decomposition of Isopropyl Alcohol on Copper and Copper Oxide Surfaces Toward Area-selective Processes. 5th Area-Selective Deposition Workshop. 2021. 1
間脇武蔵, 寺本章伸, 石井勝利, 志波良信, 諏訪智之, 東雲秀司, 清水亮, 梅澤好太, 黒田理人, 白井泰雪, et al. IPAを用いた銅・酸化銅上の表面改質. 電子情報通信学会技術研究報告(Web). 2021. 121. 71(SDM2021 22-29)

特許 (13件)：

講演・口頭発表等 (2件)：

[1] 成膜工程と連動した基板表面処理と表面イニシャライズ
(CVD反応分科会第34回シンポジウム(公益社団法人化学工学会) 2021)
[2] 微細化に依らないMOSトランジスタの性能向上へのアプローチ
(SPring-8利用推進協議会次世代先端デバイス研究会(第3回) 2016)

学歴 (4件)：

2003 - 2006 東北大学大学院工学研究科博士課程後期3年の課程(電子工学専攻)
2001 - 2003 東北大学大学院工学研究科博士課程前期2年の課程(電子工学専攻)
1997 - 2001 東北大学工学部電子工学科
- 1996 1996年 3月栃木県立栃木高等学校

学位 (1件)：

博士(工学) (東北大学)

経歴 (3件)：

2018/02 - 現在東北大学未来科学技術共同研究センター准教授
2007/04 - 2018/01 東北大学未来科学技術共同研究センター助教
2006/04 - 2007/03 東北大学未来科学技術共同研究センター助手

委員歴 (3件)：

2022/06 - 現在電子情報通信学会シリコン材料・デバイス研究会幹事
2016/01 - 現在応用物理学会薄膜・表面物理分科会、シリコンテクノロジー分科会電子デバイス界面テクノロジー研究会実行・プログラム委員
2020/06 - 2022/05 電子情報通信学会シリコン材料・デバイス研究会幹事補佐

受賞 (2件)：

2014/09 - 応用物理学会第36回応用物理学会論文賞「応用物理学会優秀論文賞」
2008/10 - 日本真空協会第33回熊谷記念真空科学論文賞ラジカル窒化シリコン酸窒化膜における窒素プロファイルのX線光電子分光分析による評価

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