宮原陽一

ミヤハラヨウイチ | Miyahara Yoichi

所属機関・部署：
職名： Assistant Professor
ホームページURL (1件)： https://miyahara.wp.txstate.edu/

研究分野 (2件)：ナノマイクロシステム , ナノ材料科学

研究キーワード (4件)：量子ドット , ナノエレクトロニクス , 走査型プローブ顕微鏡 , トンネル分光

競争的資金等の研究課題 (2件)：

論文 (68件)：

Zeno Schumacher, Rasa Rejali, Megan Cowie, Andreas Spielhofer, Yoichi Miyahara, Peter Grutter. Charge Carrier Inversion in a Doped Thin Film Organic Semiconductor Island. ACS Nano. 2021. 15. 6. 10377-10383
Yoichi Miyahara, Harrisonn Griffin, Antoine Roy-Gobeil, Ron Belyansky, Hadallia Bergeron, José Bustamante, Peter Grutter. Optical excitation of atomic force microscopy cantilever for accurate spectroscopic measurements. EPJ Techniques and Instrumentation. 2020
Zeno Schumacher, Rasa Rejali, Raphael Pachlatko, Andreas Spielhofer, Philipp Nagler, Yoichi Miyahara, David G Cooke, Peter Grütter. Nanoscale force sensing of an ultrafast nonlinear optical response. Proceedings of the National Academy of Sciences of the United States of America. 2020. 117. 33. 19773-19779
T. St-Denis, K. Yazda, X. Capaldi, J. Bustamante, M. Safari, Y. Miyahara, Y. Zhang, P. Grutter, W. Reisner. An apparatus based on an atomic force microscope for implementing tip-controlled local breakdown. Review of Scientific Instruments. 2019
Omur E. Dagdeviren, Yoichi Miyahara, Aaron Mascaro, Tyler Enright, Peter Grutter. Amplitude Dependence of Resonance Frequency and its Consequences for Scanning Probe Microscopy. Sensors. 2019. 19. 20. 4510-4510

MISC (23件)：

Miyahara, Yoichi, Cockins, Lynda, Grütter, Peter. Electrical characterization of low dimensional systems. Kelvin Probe Force Microscopy. 2012. 48. 175-199
廣田裕介, 一山清隆, 細井直樹, 宮原陽一, 尾崎肇. 19pYB-11 TiSe_<2-x>S_x系CDW状態の熱起電力測定. 日本物理学会講演概要集. 2001. 56. 2. 493-493
荻野崇, 三ツ木雅紀, 坂東弘之, 宮原陽一, 榎本博行, 尾崎肇. 25aSG-4 Bi_2Sr_2CaCu_2O_<8+δ>単結晶のエネルギーギャップ面内異方性. 日本物理学会講演概要集. 2000. 55. 2. 545-545
藤澤英樹, 柳沼晋, 高橋隆, 宮原陽一, 尾崎肇. 24pZH-8 1T-TiSe_2 の角度分解光電子分光 : CDWの起源. 日本物理学会講演概要集. 2000. 55. 1. 538-538
大井謙, 板東弘之, 宮原陽一, 榎本博行, 尾崎肇. 31a-ZF-11 貼り合わせSi(111)waferのトンネル分光II. 日本物理学会講演概要集. 1999. 54. 1. 173-173

特許 (4件)：

Atomic force microscopy using correlated probe oscillation and probe-sample bias voltage
Methods and systems for optimizing frequency modulation atomic force microscopy
超精密回転装置
分子素子作製用の位置測定(位置決め)装置

書籍 (1件)：

講演・口頭発表等 (15件)：

学位 (1件)：

経歴 (5件)：

所属学会 (1件)：

応用物理学会

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宮原 陽一