研究者
J-GLOBAL ID:201101047657309845
更新日: 2024年01月30日 宮原 陽一
ミヤハラ ヨウイチ | Miyahara Yoichi
所属機関・部署: 職名:
Assistant Professor
ホームページURL (1件): https://miyahara.wp.txstate.edu/ 研究分野 (2件):
ナノマイクロシステム
, ナノ材料科学
研究キーワード (4件):
量子ドット
, ナノエレクトロニクス
, 走査型プローブ顕微鏡
, トンネル分光
競争的資金等の研究課題 (2件): - 1996 - 1996 角度分解型トンネル分光による擬二次元物質の電子状態の異方性の観測
- 1995 - 1995 ブロッホ状態間トンネリングにおける横方向波数保存則の検証
論文 (68件): -
Zeno Schumacher, Rasa Rejali, Megan Cowie, Andreas Spielhofer, Yoichi Miyahara, Peter Grutter. Charge Carrier Inversion in a Doped Thin Film Organic Semiconductor Island. ACS Nano. 2021. 15. 6. 10377-10383
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Yoichi Miyahara, Harrisonn Griffin, Antoine Roy-Gobeil, Ron Belyansky, Hadallia Bergeron, José Bustamante, Peter Grutter. Optical excitation of atomic force microscopy cantilever for accurate spectroscopic measurements. EPJ Techniques and Instrumentation. 2020
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Zeno Schumacher, Rasa Rejali, Raphael Pachlatko, Andreas Spielhofer, Philipp Nagler, Yoichi Miyahara, David G Cooke, Peter Grütter. Nanoscale force sensing of an ultrafast nonlinear optical response. Proceedings of the National Academy of Sciences of the United States of America. 2020. 117. 33. 19773-19779
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T. St-Denis, K. Yazda, X. Capaldi, J. Bustamante, M. Safari, Y. Miyahara, Y. Zhang, P. Grutter, W. Reisner. An apparatus based on an atomic force microscope for implementing tip-controlled local breakdown. Review of Scientific Instruments. 2019
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Omur E. Dagdeviren, Yoichi Miyahara, Aaron Mascaro, Tyler Enright, Peter Grutter. Amplitude Dependence of Resonance Frequency and its Consequences for Scanning Probe Microscopy. Sensors. 2019. 19. 20. 4510-4510
もっと見る MISC (23件): -
Miyahara, Yoichi, Cockins, Lynda, Grütter, Peter. Electrical characterization of low dimensional systems. Kelvin Probe Force Microscopy. 2012. 48. 175-199
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廣田 裕介, 一山 清隆, 細井 直樹, 宮原 陽一, 尾崎 肇. 19pYB-11 TiSe_<2-x>S_x系CDW状態の熱起電力測定. 日本物理学会講演概要集. 2001. 56. 2. 493-493
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荻野 崇, 三ツ木 雅紀, 坂東 弘之, 宮原 陽一, 榎本 博行, 尾崎 肇. 25aSG-4 Bi_2Sr_2CaCu_2O_<8+δ>単結晶のエネルギーギャップ面内異方性. 日本物理学会講演概要集. 2000. 55. 2. 545-545
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藤澤 英樹, 柳沼 晋, 高橋 隆, 宮原 陽一, 尾崎 肇. 24pZH-8 1T-TiSe_2 の角度分解光電子分光 : CDWの起源. 日本物理学会講演概要集. 2000. 55. 1. 538-538
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大井 謙, 板東 弘之, 宮原 陽一, 榎本 博行, 尾崎 肇. 31a-ZF-11 貼り合わせSi(111)waferのトンネル分光II. 日本物理学会講演概要集. 1999. 54. 1. 173-173
もっと見る 特許 (4件): -
Atomic force microscopy using correlated probe oscillation and probe-sample bias voltage
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Methods and systems for optimizing frequency modulation atomic force microscopy
- 超精密回転装置
- 分子素子作製用の位置測定(位置決め)装置
書籍 (1件): - Kelvin Probe Force Microscopy
Springer 2011 ISBN:9783642225659
講演・口頭発表等 (15件): -
19pYB-11 TiSe_<2-x>S_x系CDW状態の熱起電力測定
(日本物理学会講演概要集 2001)
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25aSG-4 Bi_2Sr_2CaCu_2O_<8+δ>単結晶のエネルギーギャップ面内異方性
(日本物理学会講演概要集 2000)
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23pTF-11 1T-TiSe_2の角度分解光電子分光 : excitonic insulator
(日本物理学会講演概要集 2000)
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24pZH-8 1T-TiSe_2 の角度分解光電子分光 : CDWの起源
(日本物理学会講演概要集 2000)
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31a-ZF-11 貼り合わせSi(111)waferのトンネル分光II
(日本物理学会講演概要集 1999)
もっと見る 学位 (1件): 経歴 (5件): - 2019/01 - 現在 テキサス州立大学 物理学科 Assistant Professor
- 2002/06 - 2018/12 マギル大学 Research Associate
- 2011/01 - 2013/09 マギル大学 Course Lecturer
- 1997/06 - 2002/05 Ecole Polytechnique Federale de Lausanne Research Associate
- 1995/04 - 1997/03 早稲田大学 理工学部 助手
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