研究者
J-GLOBAL ID：201101098901108095   更新日: 2023年07月05日

山末 耕平

ヤマスエ コウヘイ | Yamasue Kohei
所属機関・部署：
東北大学 電気通信研究所 情報デバイス研究部門 誘電ナノデバイス研究室 誘電ナノ物性計測システム研究分野

東北大学 電気通信研究所 情報デバイス研究部門 誘電ナノデバイス研究室 誘電ナノ物性計測システム研究分野 について


職名： 准教授
ホームページURL (2件)： http://db.tohoku.ac.jp/whois/detail/6c27c4dcfdf6326608d4c33da0bd27ac.html ,  http://db.tohoku.ac.jp/whois/e_detail/6c27c4dcfdf6326608d4c33da0bd27ac.html
研究分野 (3件)： 通信工学 ,  電子デバイス、電子機器 ,  薄膜、表面界面物性
競争的資金等の研究課題 (11件)：
  • 2020 - 2024 走査型非線形誘電率顕微鏡による原子層材料・デバイスのナノ・原子スケール物性評価
  • 2021 - 走査型非線形誘電率顕微鏡を用いたGaN-MOSの高性能化に資する計測評価
  • 2016 - 2021 非線形誘電率顕微鏡法を用いた界面電荷輸送現象における諸問題の起源解明
  • 2015 - 2018 走査型非線形誘電率ポテンショメトリの開発とその電子材料・デバイス評価への応用
  • 2014 - 2018 超高次非線形誘電率顕微鏡法を用いたSiC基板材料及びパワーエレクトロニクス素子の高性能化に資する評価技術の開発
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論文 (55件)：
  • Kohei Yamasue, Yasuo Cho. Correlation analysis on local capacitance-voltage profiles of a SiO<sub>2</sub>/SiC interface observed by time-resolved scanning nonlinear dielectric microscopy. 2023 7th IEEE Electron Devices Technology & Manufacturing Conference (EDTM). 2023
  • 山末 耕平, 長 康雄. 時間分解走査型非線形誘電率顕微鏡による SiO2/SiC の局所容量-電圧特性のナノスケールゆらぎ解析. 第42回ナノテスティングシンポジウム(NANOTS2022). 2022. 31-35
  • Kohei Yamasue, Yasuo Cho. Local capacitance-voltage profiling and deep level transient spectroscopy of SiO2/SiC interfaces by scanning nonlinear dielectric microscopy. Microelectron. Reliab. 2022. 135. 114588-114588
  • Yu Ogata, Kohei Yamasue, Xufang Zhang, Tsubasa Matsumoto, Norio Tokuda, Yasuo Cho. Microscopic Evaluation of Al2O3/p-Type Diamond (111) Interfaces Using Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy. Mater. Sci. Forum. 2022. 1062. 298-303
  • Kohei Yamasue, Yasuo Cho. Surface Potential Fluctuations of SiO2/SiC Interfaces Investigated by Local Capacitance-Voltage Profiling Based on Time-Resolved Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy. Mater. Sci. Forum. 2022. 1062. 335-340
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書籍 (2件)：
  • Nonlinear Dynamics of Nanosystems
    Wiley-VCH 2010 ISBN:9783527407910
  • Handbook of Chaos Control Second completely revised and enlarged edition
    Wiley-VCH 2007 ISBN:9783527406050
講演・口頭発表等 (49件)：
  • 走査型非線形誘電率顕微鏡によるSiO2上機械剥離MoS2の局所DLTS測定
    (第70回 応用物理学会春季学術講演会,上智大学四谷キャンパス+オンライン)
  • Scanning nonlinear dielectric microscopic investigation of mechanically exfoliated WSe2/SiO2 and suspended WSe2
    (2022 MRS Fall Meeting & Exhibit, Boston, Massachusetts, USA)
  • Real-space analysis on surface potential fluctuations of Al2O3/GaN interfaces by scanning nonlinear dielectric microscopy
    (International Workshop on Nitride Semiconductors (IWN2022), Berlin, Germany)
  • Comparative study on carrier distribution of mechanically exfoliated WSe2/SiO2 and suspended WSe2 by scanning nonlinear dielectric microscopy
    (The 22nd International Vacuum Congress (IVC-22), Sapporo Convention Center, Sapporo, Japan)
  • 走査型非線形誘電率顕微鏡の原理と半導体ナノスケール物性評価への応用
    (電気化学会電子材料委員会 第86回半導体・集積回路技術シンポジウム 2022)
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学歴 (2件)：
  • 2002 - 2007 京都大学 工学研究科 電気工学専攻
  • 1998 - 2002 京都大学 工学部 電気電子工学科
学位 (1件)：
  • 博士(工学) (京都大学)
経歴 (5件)：
  • 2016/07 - 現在 東北大学 電気通信研究所 准教授
  • 2010/04 - 2016/06 東北大学 電気通信研究所 助教
  • 2008/08 - 2010/03 京都大学 大学院工学研究科 助教
  • 2008/04 - 2008/07 京都大学 ベンチャー・ビジネス・ラボラトリー 研究員(中核的研究機関)
  • 2007/04 - 2008/03 京都大学 ベンチャー・ビジネス・ラボラトリー 講師(中核的研究機関研究員)
委員歴 (14件)：
  • 2011/05 - 2014/05 電子情報通信学会 非線形問題研究専門委員会 専門委員
  • 2011/05 - 2014/05 電子情報通信学会 非線形問題研究専門委員会 専門委員
  • 2012/09 - 2013/07 Nonlinear Theory ant Its Applications, The Institute of Electronics, Information and Communication Engineers "Special Section on Nonlinear Vibration in Mechanical Systems and Its Control-from Nano to Macro-" Guest Editorial Committee, Secretary
  • 2012/09 - 2013/07 Nonlinear Theory ant Its Applications,電子情報通信学会 「Special Section on Nonlinear Vibration in Mechanical Systems and Its Control-from Nano to Macro-」英文論文小特集編集委員会 編集幹事
  • 2009/05 - 2011/05 電子情報通信学会 非線形問題研究会 幹事補佐
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受賞 (1件)：
  • 2021/11 - 一般財団法人 石田實記念財団 石田實記念財団研究奨励賞 走査型非線形誘電率顕微鏡によるナノ・原子スケール物性評価
所属学会 (3件)：
電子情報通信学会 ,  American Physical Society ,  日本表面科学会 プローブ顕微鏡研究部会 会員
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