ENGLISH 使い方
JST運営の無料で使える情報検索サービス

共著の研究者

共同発明の研究者

この研究者の研究内容に近い研究者

この研究者の研究内容に近い文献

この研究者の研究内容に近い特許

この研究者の研究内容に近い研究課題

この研究者が著者と推定される文献

この研究者が発明者と推定される特許

研究者
J-GLOBAL ID:201901001760965032   更新日: 2025年02月14日

関 岳人

セキ タケヒト | Seki Takehito
クリップ
所属機関・部署:
職名: 講師
その他の所属(所属・部署名・職名) (1件):
  • JST  さきがけ研究者
研究分野 (3件): 無機材料、物性 ,  金属材料物性 ,  ナノ材料科学
研究キーワード (9件): 走査透過型電子顕微鏡法 ,  最適明視野法 ,  微分位相コントラスト法 ,  半導体 ,  磁性材料 ,  金属間化合物 ,  界面 ,  粒界 ,  準結晶
競争的資金等の研究課題 (11件):
  • 2024 - 2029 走査透過電子顕微鏡による原子分解能熱振動イメージング法の開発と応用
  • 2021 - 2026 JPMJPR21AA 超低電子ドーズSTEM法の開発と実空間原子・分子配列構造解析
  • 2020 - 2025 20H05659原子スケール局所磁場直接観察手法の開発と磁性材料界面研究への応用
  • 2019 - 2024 19H05788界面機能コア解析
  • 2021 - 2023 風戸研究奨励会 高速分割型 STEM 検出器による超高感度原子結像法の開発と応用
全件表示
論文 (37件):
  • Satoko Toyama, Takehito Seki, Yuji Kohno, Yoshiki O. Murakami, Yuichi Ikuhara, Naoya Shibata. Nanoscale electromagnetic field imaging by advanced differential phase-contrast STEM. Nature Reviews Electrical Engineering. 2024
  • Kousuke Ooe, Takehito Seki, Mitsuru Nogami, Yuichi Ikuhara, Naoya Shibata. Dose-efficient phase-contrast imaging of thick weak phase objects via OBF STEM using a pixelated detector. Microscopy. 2024
  • Satoko Toyama, Takehito Seki, Bin Feng, Yuichi Ikuhara, Naoya Shibata. Direct observation of space-charge-induced electric fields at oxide grain boundaries. Nature Communications. 2024. 15. 1. 8704
  • Masaya Takamoto, Takehito Seki, Yuichi Ikuhara, Naoya Shibata. Diffraction contrast of ferroelectric domains in DPC STEM images. Microscopy. 2024. 73. 5. 422-429
  • Koudai Tabata, Takehito Seki, Scott D. Findlay, Ryo Ishikawa, Ryuji Tamura, Yuichi Ikuhara, Naoya Shibata. Direct Imaging of Atomic Rattling Motion in a Clathrate Compound. Small Science. 2024. 4. 4. 2300254
もっと見る
MISC (32件):
  • 関 岳人, 河野 祐二, 幾原 雄一, 柴田 直哉. 原子分解能磁場フリー電子顕微鏡による超高分解能磁場観察. 表面と真空. 2023. 66. 12. 683-688
  • 関 岳人, 河野 祐二, 幾原 雄一, 柴田 直哉. 走査透過電子顕微鏡による原子レベルの磁場観察. 固体物理. 2023. 58. 7. 377-383
  • Kousuke Ooe, Takehito Seki, Yuji Kohno, Akiho Nakamura, Yuichi Ikuhara, Naoya Shibata. Low-dose atomic-resolution observation of beam-sensitive materials via OBF STEM imaging technique. JEOL News. 2023. 58. 1. 21-28
  • 大江 耕介, 関 岳人, 河野 祐二, 中村 明穂, 幾原 雄一, 柴田 直哉. OBF STEMによる電子線敏感材料の低ドーズ原子分解能観察. 日本電子News. 2023. 55. 1. 2-7
  • 関 岳人, 河野 祐二, 幾原 雄一, 柴田 直哉. 走査透過電子顕微鏡による原子レベルの磁場観察. 固体物理. 2023. 58. 21-27
もっと見る
特許 (2件):
講演・口頭発表等 (22件):
  • Advancing OBF STEM for High-throughput Low-dose Imaging
    (The 13th Asia Pacific Microscopy Congress 2025)
  • Developing STEM Techniques with Segmented Detectors and Exploring Pixelated Detector Applications
    (The 2nd China 4D-STEM Forum 2024)
  • Advancing Scanning Transmission Electron Microscopy Through Instrumentation and Technique Development
    (Hong Kong Advanced Transmission Electron Microscopy 2024 2024)
  • STEM位相イメージング法の最近の展開
    (日本顕微鏡学会シンポジウム 2024)
  • 電子顕微鏡による材料観察技術の最先端
    (先端電子顕微鏡分析技術講演会 2024)
もっと見る
学歴 (1件):
  • 2011 - 2014 東京大学 大学院工学系研究科 マテリアル工学専攻 博士課程
学位 (1件):
  • 博士(工学) (東京大学)
経歴 (6件):
  • 2024/03 - 現在 東京大学 大学院工学系研究科 附属総合研究機構 講師
  • 2021/10 - 現在 科学技術振興機構(JST) さきがけ研究者(兼任)
  • 2019/04 - 2024/02 東京大学 大学院工学系研究科 附属総合研究機構 助教
  • 2015/04 - 2019/03 東京大学 大学院工学系研究科 附属総合研究機構 特任研究員
  • 2014/04 - 2015/03 東京大学 工学系研究科マテリアル工学専攻 日本学術振興会特別研究員(PD)
全件表示
受賞 (9件):
  • 2024/05 - 日本顕微鏡学会 和文誌賞 OBF STEM法を利用した低ドーズ原子分解能観察
  • 2024/03 - 東京大学大学院工学系研究科 萌芽賞
  • 2023/03 - 準結晶研究会 蔡安邦賞
  • 2022/05 - 日本顕微鏡学会 奨励賞 走査透過電子顕微鏡における位相結像理論の構築と新規結像法開発
  • 2021/03 - 風戸研究奨励会 風戸研究奨励賞 高速分割型 STEM 検出器による超高感度原子結像法の開発と応用
全件表示
※ J-GLOBALの研究者情報は、researchmapの登録情報に基づき表示しています。 登録・更新については、こちらをご覧ください。

前のページに戻る