研究者
J-GLOBAL ID:200901021885456052
更新日: 2020年09月01日
西野 種夫
ニシノ タネオ | Nishino Taneo
所属機関・部署:
旧所属 神戸市立工業高等専門学校
旧所属 神戸市立工業高等専門学校 について
「旧所属 神戸市立工業高等専門学校」ですべてを検索
職名:
その他,名誉教授
研究分野 (4件):
電気電子材料工学
, 結晶工学
, 応用物性
, 半導体、光物性、原子物理
研究キーワード (7件):
固体物性Ι(光物性・半導体・誘電体)
, 電子・電気材料工学
, 応用物性・結晶工学
, Semiconductor and Dielectrics)
, Solid-State PhysicsΙ(Optical Properties
, Electronic and Electric Materials Engineering
, Applied Physics of Property and Crystallography
競争的資金等の研究課題 (6件):
1983 - 2000 III-V族混晶半導体の微視的評価に関する研究
1983 - 2000 Study on Microscopic Characterization of III-V Alloy Semiconductors
1975 - 2000 シリコン結晶中の不純物,欠陥の光物性に関する研究
1975 - 2000 Study on Optical Properties of Impurities and Defects in Silicon
1970 - 2000 半導体ヘテロ接合の物性とデバイス応用
1970 - 2000 Properties of Semiconductor Heterostructures and Their Application to Solid State Devices
全件表示
MISC (32件):
Spin polarization of exciton luminescence from ordered Ga
0.5
In
0.5
P. Phys. Rev. B. 1998. 57. 24. R15044-R15047
Observation of Ordering-Induced Indirect to Direct Transition in AlGaInP. Proc. 40th Electron. Mat. Conf. 1998
Dynamical control of quantum tunneling due to ac Stark shift in an asymmetric coupled-quantum-dot. Phys. Rev. B. 1997. 56. 15. 9231-9234
Valence-Electron Spectral Change in Electrochemical Reaction Process in CaSi
2
. Appl. Surface Sci. 1997. 114. 562-566
Takashi Kita, Taneo Nishino. Electron-Beam Electroreflectance Spectroscopy of Semiconductors. Jpn. J. Appl. Phys. 1996. 35. 10. 5367-5373
もっと見る
書籍 (1件):
Optical characterization of spontaneously ordered GaInP alloy semiconductors
Elsevier Science Publishers 1993
学歴 (4件):
- 1943 大阪大学 工学研究科 電気工学
- 1943 大阪大学
- 1937 大阪大学 工学部 電気工学科
- 1937 大阪大学
学位 (2件):
工学博士 (大阪大学)
工学修士 (大阪大学)
経歴 (6件):
1988 - 2000 神戸大学工学部 教授
1988 - 2000 神戸大学
1976 - 1988 大阪大学基礎工学部 助教授
1976 - 1988 大阪大学
1968 - 1976 大阪大学基礎工学部 助手
1968 - 1976 Osaka University, Research Associate
全件表示
委員歴 (2件):
1989 - 1992 The Japan Society of Applied Physics Director, Councilor, Presiclent of Kansai-branch
1989 - 1991 応用物理学会 理事,評議員,関西支部長
所属学会 (3件):
日本物理学会
, 応用物理学会
, The Japan Society of Applied Physics
※ J-GLOBALの研究者情報は、
researchmap
の登録情報に基づき表示しています。 登録・更新については、
こちら
をご覧ください。
前のページに戻る
TOP
BOTTOM