研究者
J-GLOBAL ID:200901085887396381
更新日: 2022年09月20日
山本 正樹
ヤマモト マサキ | Yamamoto Masaki
所属機関・部署:
旧所属 東北大学 多元物質科学研究所 附属先端計測開発センター
旧所属 東北大学 多元物質科学研究所 附属先端計測開発センター について
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職名:
教授
研究分野 (2件):
光工学、光量子科学
, 薄膜、表面界面物性
競争的資金等の研究課題 (6件):
2001 - 軟X線干渉計測
2001 - 軟X線多層膜結像光学
2001 - soft-x-ray interferometry
2001 - soft-x-ray multilayer imaging optics
1981 - 超薄膜のエリプソメトリー
1981 - ellipsometry of ultra-thin layers
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MISC (307件):
山本 正樹, 津留 俊英. 偏光利用による3次元リアルタイム計測法の開発. 検査技術. 2010. 15. 1. 1-9
P. Siffalovic, E. Majkova, L. Chitu, M. Jergel, S. Luby, J. Keckes, G. Maier, A. Timmann, S. V. Roth, T. Tsuru, et al. Characterization of Mo/Si soft X-ray multilayer mirrors by grazing-incidence small-angle X-ray scattering. VACUUM. 2009. 84. 1. 19-25
P. Siffalovic, E. Majkova, L. Chitu, M. Jergel, S. Luby, J. Keckes, G. Maier, A. Timmann, S. V. Roth, T. Tsuru, et al. Characterization of Mo/Si soft X-ray multilayer mirrors by grazing-incidence small-angle X-ray scattering. VACUUM. 2009. 84. 1. 19-25
山本 正樹, 津留 俊英. 正反射による物体表面の傾斜エリプソメトリー:精密実時間形状計測への基本概念. 光学. 2009. 38. 4. 204-212
軟X線を利用した光学顕微鏡の世界. Isotope News. 2009. 659. 2-6
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特許 (1件):
偏光解析装置
書籍 (19件):
EUV光源の開発と応用
シーエムシー出版 2007
EUV source developments and applications
CMC Publ. 2007
多層膜反射鏡(4、3節),軟X線偏光素子(4、5節)
X線結像光学(培風館)共著 1999
Deposition shutter control for figured multilayer fabrication
Precision Science and Technology for Perfect Surfaces, Japan Soc. Prec. Eng.,Tokyo 1999
Deposition shutter control for figured multilayer fabrication
Precision Science and Technology for Perfect Surfaces, Japan Soc. Prec. Eng.,Tokyo 1999
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学位 (1件):
理学博士 (学習院大学)
受賞 (2件):
1995 - 科学計測振興会賞
1994 - 応用物理学会賞
所属学会 (3件):
日本放射光学会
, 日本光学会
, 応用物理学会
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