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J-GLOBAL ID：200902041495640990   整理番号：84A0155013

検査可能な耐故障性プロセッサ・アレイを作るDiogenes法

The diogenes approach to testable fault-tolerant arrays of processors.
クリップ
著者 (1件)：
ROSENBERG A L

ROSENBERG A L について

(Duke Univ., NC)

Duke Univ., NC について


資料名：
IEEE Transactions on Computers  (IEEE Transactions on Computers)

IEEE Transactions on Computers について


巻： 32  号： 10  ページ： 902-910  発行年： 1983年10月 
JST資料番号： C0233A  ISSN： 0018-9340  CODEN： ICTOB4  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)
抄録/ポイント：
抄録/ポイント
文献の概要を数百字程度の日本語でまとめたものです。
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シソーラス用語：
シソーラス用語/準シソーラス用語
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超LSI について

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分類 (1件)：
分類
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(NC03040G)

固体デバイス計測・試験・信頼性 について

タイトルに関連する用語 (4件)：
タイトルに関連する用語
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耐故障性

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, 
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, 
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