文献

J-GLOBAL ID：200902086644516419   整理番号：92A0321665

M配列を用いた鏡面物体の三次元形状計測

The use of M arrays to measure the three-dimensional shape of a specular object.

著者 (4件)： 西村拓一 (東大) ,  藤村貞夫 (東大) ,  伊藤直史 (東大) ,  喜安千弥 (東大)
資料名： 電気学会計測研究会資料  (電気学会研究会資料)
巻： IM-92  号： 10-15  ページ： 9-17  発行年： 1992年03月10日 
JST資料番号： Z0912A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 正反射特性の強い物体に対する三次元形状測定法の従来のいくつか...

シソーラス用語： 形状測定 ,...

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分類 (1件)： 長さ,面積,断面,体積,容積,角度の計測法・機器  (AD05020O)

タイトルに関連する用語 (3件)： 鏡面 ,  物体 ,  三次元形状計測