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J-GLOBAL ID：200902109580077416   整理番号：99A0730364

テスト数制限下でのテスト入力集合の選択手法について

On Test Pattern Selection with a Limited Number of Tests.

著者 (3件)： 市原英行 (大阪大) ,  梶原誠司 (九州工大 情報工) ,  樹下行三 (大阪大)
資料名： 電子情報通信学会論文誌 D-1  (IEICE Transactions on Information and Systems, Pt.1 (Japanese Edition))
巻： J82-D-1  号： 7  ページ： 861-868  発行年： 1999年07月25日 
JST資料番号： S0757B  ISSN： 0915-1915  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： テスト生成の研究では,テスト時間を短縮するためにより小さいテ...

シソーラス用語： *論理回路 ,...
準シソーラス用語： IDDQテスト

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分類 (1件)： 論理回路  (NC05070B)

引用文献 (7件)：

• ABRAMOVICI, M. Digital Systems Testing and Testable Design. 1990
• GOEL, P. Test generation and dynamic compaction of tests. 1979 Test Conf. 1979, 189-192
• POMERANZ, I. COMPACTEST : A method to generate compact test sets for combinational circuits. IEEE Trans. Computer-Aided Design. 1993, 1040-1049
• MAO, W. QUIETEST : A Quiescent Current Testing Methodology for Detecting Leakage Faults. Int'l Conf. on CAD. 1990, 280-283
• CHAKRAVARTY, S. Algorithms to select IDDQ measurement points to detect bridging faults. Journal of Electronic Testing. 1996, 8, 275-285

タイトルに関連する用語 (4件)： テスト ,  制限 ,  集合 ,  手法