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J-GLOBAL ID:200902133029144674   整理番号:02A0521569

水平型冷壁の化学気相蒸着により成長させた4H-SiCにおけるZ1中心の濃度の高感度な解析

High-Sensitivity Analysis of Z1 Center Concentration in 4H-SiC Grown by Horizontal Cold-Wall Chemical Vapor Deposition.
著者 (3件):
資料名:
巻: 41  号: 5A  ページ: 2987-2988  発行年: 2002年05月15日 
JST資料番号: G0520B  ISSN: 0021-4922  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 短報  発行国: 日本 (JPN)  言語: 英語 (EN)
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種々の成長の条件下で水平型冷壁の化学気相蒸着により作製した4...
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分類 (1件):
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半導体薄膜 
引用文献 (10件):
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